CONDUCTIVE PARTICLE AND TESTING SOCKET COMPRSING THE SAME

본 발명의 일 실시예는 피검사 디바이스와 테스트 보드 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 리드와 테스트 보드의 패드를 서로 전기적으로 접속시키는 검사용 소켓에 사용되는 도전성 입자로서, 상기 도전성 입자는, 중심부 및 상기 중심부를 기준으로 다방향으로 돌출하는 복수개의 돌출부를 가지는, 도전성 입자를 제공한다. One embodiment of the present invention relates to conductive particles used in a test socket disposed between a device und...

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Main Author KIM, GYU SUN
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 04.03.2024
Subjects
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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Summary:본 발명의 일 실시예는 피검사 디바이스와 테스트 보드 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 리드와 테스트 보드의 패드를 서로 전기적으로 접속시키는 검사용 소켓에 사용되는 도전성 입자로서, 상기 도전성 입자는, 중심부 및 상기 중심부를 기준으로 다방향으로 돌출하는 복수개의 돌출부를 가지는, 도전성 입자를 제공한다. One embodiment of the present invention relates to conductive particles used in a test socket disposed between a device under test and a test board to electrically connect a lead of the device under test and a pad of the test board to each other, wherein the conductive particles include a central portion and a plurality of protrusions protruding in multiple directions based on the central portion.
Bibliography:Application Number: KR20240025066