광학 디바이스들에 대한 효율을 측정하는 방법

• Main Authors: SUN YANGYANG, GODET LUDOVIC, DAITO KAZUYA, FU JINXIN
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 16.11.2023
• Subjects: ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION ORRERADIATION OF RADIO WAVES; MEASURING; PHYSICS; RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; TESTING; TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES; TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR

본 개시내용의 실시예들은 광학 디바이스들의 효율을 측정하는 측정 시스템들 및 방법들에 관한 것이다. 일 예에서, 측정 시스템들은 광원, 미러, 조명 소스, 및 센서를 포함한다. 광원은 회절 차수들을 갖는 회절 빔들로 회절될 광 빔을 광학 디바이스에 제공한다. 회절 빔들은 회절 패턴을 형성한다. 방법은 광학 디바이스를 측정 시스템에 포지셔닝하는 단계 및 회절 빔들을 센서 쪽으로 지향시키는 단계를 포함한다. 센서는 회절 패턴을 측정함으로써 광학 디바이스의 효율을 측정하도록 동작 가능하다. Embodiments of the present disclosure relate to measurement systems and methods of measuring efficiency of optical devices. In one example, the measurement systems include a light source, a mirror, an illumination source, and a sensor. The light source provides a light beam to the optical device to be diffracted into diffraction beams having diffraction orders. The diffractions beams form a diffraction pattern. The method includes positioning the optical device in the measurement system and directing the diffraction beams to the sensor. The sensor is operable to measure the efficiency of the optical device by measuring the diffraction pattern.