SUBSTRATE PROCESSING METHOD
갭필 공정을 포함하는 기판 처리 방법이 개시된다. 상기 방법은 표면에 갭이 형성된 기판을 반응 공간 내에 제공하는 단계, 상기 반응 공간 내에 저중합체 실리콘 전구체 및 질소 함유 기체를 공급하는 단계, 상기 반응 공간 내를 플라즈마 상태로 유지하면서, 상기 기판의 상기 갭의 적어도 일부를 충전할 수 있도록 상기 기판 상에 유동성을 갖는 실리콘 나이트라이드막을 형성하는 단계, 및 상기 실리콘 나이트라이드막을 치밀화하는 단계를 포함한다. A substrate processing method comprising a gap-fill pr...
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Format | Patent |
Language | English Korean |
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20.10.2023
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Summary: | 갭필 공정을 포함하는 기판 처리 방법이 개시된다. 상기 방법은 표면에 갭이 형성된 기판을 반응 공간 내에 제공하는 단계, 상기 반응 공간 내에 저중합체 실리콘 전구체 및 질소 함유 기체를 공급하는 단계, 상기 반응 공간 내를 플라즈마 상태로 유지하면서, 상기 기판의 상기 갭의 적어도 일부를 충전할 수 있도록 상기 기판 상에 유동성을 갖는 실리콘 나이트라이드막을 형성하는 단계, 및 상기 실리콘 나이트라이드막을 치밀화하는 단계를 포함한다.
A substrate processing method comprising a gap-fill process is disclosed. The method includes providing a substrate in which a gap is formed in a surface thereof to a reaction space, supplying an oligomeric silicon precursor and a nitrogen-containing gas to the reaction space, forming a silicon nitride film having flowability on the substrate to fill at least a portion of the gap of the substrate while maintaining the reaction space in a plasma state, and densifying the silicon nitride film. |
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Bibliography: | Application Number: KR20230045173 |