재구성 가능한 큐비트 얽힘 시스템
몇몇 실시예에 따르면, 시스템은 제1 큐비트 및 제1 스위치에 연결된 제1 입력부를 포함하고, 제1 스위치는 제1 출력, 제2 출력 및 제3 출력을 포함한다. 상기 시스템은 제1 스위치의 제1 출력에 연결되는 제1 단일 큐비트 측정 디바이스 및 제2 스위치의 제1 출력에 연결되는 제2 단일 큐비트 측정 디바이스를 더 포함한다. 상기 시스템은 제1 스위치의 제2 출력 및 상기 제2 스위치의 제2 출력에 연결되는 제1 2큐비트 측정 디바이스 및 제1 스위치의 제3 출력 및 제2 스위치의 제3 출력에 연결되는 제2 2큐비트 측정 디바이스...
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Format | Patent |
Language | Korean |
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19.09.2023
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Summary: | 몇몇 실시예에 따르면, 시스템은 제1 큐비트 및 제1 스위치에 연결된 제1 입력부를 포함하고, 제1 스위치는 제1 출력, 제2 출력 및 제3 출력을 포함한다. 상기 시스템은 제1 스위치의 제1 출력에 연결되는 제1 단일 큐비트 측정 디바이스 및 제2 스위치의 제1 출력에 연결되는 제2 단일 큐비트 측정 디바이스를 더 포함한다. 상기 시스템은 제1 스위치의 제2 출력 및 상기 제2 스위치의 제2 출력에 연결되는 제1 2큐비트 측정 디바이스 및 제1 스위치의 제3 출력 및 제2 스위치의 제3 출력에 연결되는 제2 2큐비트 측정 디바이스를 더 포함한다.
According to some embodiments, a system includes a first input coupled to a first qubit and a first switch, wherein the first switch includes a first output, a second output, and a third output. The system further includes a first single qubit measuring device coupled to the first output of the first switch and a second single qubit measuring device coupled to a first output of a second switch. The system further includes a first two qubit measuring device coupled to the second output of the first switch and a second output of the second switch and a second two qubit measuring device coupled to the third output of the first switch and a third output of the second switch. |
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Bibliography: | Application Number: KR20237027654 |