SEMICONDUCTOR CHIP OPERATING METHOD OF THE SAMD AND TEST METHOD OF THE SAME

• Main Authors: CHOI JAE SEUNG, CHOI HWANG HO, BYUN DO HOON, JUNG YEON HO, PARK CHAN WOOK, KWAK MIN WOO, LEE KWAN SEONG, LEE JAE HO, KYE JONG WOOK, KIM MI JOUNG
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 12.06.2023
• Subjects: BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY; ELECTRICITY; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; PULSE TECHNIQUE; TESTING

Provided is an operating method of a semiconductor chip that measures an IR drop of the semiconductor device. The semiconductor chip comprises: a semiconductor device connected between a first node to which a power-supply voltage is applied and a second node to which a ground voltage is applied; a first ring oscillator connected to the first node and the second node through a first switch; and a second ring oscillator connected to the first node and the second node through a second switch, wherein the first and second switches and the first and second ring oscillators operate in response to a control signal. 반도체 장치의 IR 드롭을 측정하는 반도체 칩의 동작 방법이 제공된다. 반도체 칩은 전원 전압이 인가되는 제1 노드와 접지 전압이 인가되는 제2 노드 사이에 연결된 반도체 장치, 제1 스위치를 통해 제1 노드 및 제2 노드와 연결되는 제1 링 오실레이터, 및 제2 스위치를 통해 제1 노드 및 제2 노드와 연결되는 제2 링 오실레이터를 포함하고, 제1 및 제2 스위치와 제1 및 제2 링 오실레이터는 제어 신호에 응답하여 동작한다.