지원 결함 인식 시스템을 위한 설계 인터페이스

맞춤형 지원 결함 인식(ADR) 시스템 및/또는 워크플로우를 설계 및/또는 구성하기 위한 인터페이스의 예가 본원에서 설명된다. 몇몇 예에서, ADR 시스템 및/또는 워크플로우는, 예를 들면, 노드 기반의 프로세싱 도구와 같은 시각적 도구를 사용하여 설계 및/또는 구성될 수도 있다. 몇몇 예에서, ADR 워크플로우는 산업용 X 선 이미징/스캐닝 시스템에 의해 생성될 수도 있는 것과 같은 이차원(2D) 및/또는 삼차원(3D) 방사선 촬영 이미지/스캔을 분석하기 위해 사용될 수도 있다. Described herein are example...

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Main Authors FERLEY ERIC, SCHLECHT JOSEPH, HAY CALEB NELSON, LIN SEAN
Format Patent
LanguageKorean
Published 05.06.2023
Subjects
CALCULATING
COMPUTING
COUNTING
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
PHYSICS
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Summary:맞춤형 지원 결함 인식(ADR) 시스템 및/또는 워크플로우를 설계 및/또는 구성하기 위한 인터페이스의 예가 본원에서 설명된다. 몇몇 예에서, ADR 시스템 및/또는 워크플로우는, 예를 들면, 노드 기반의 프로세싱 도구와 같은 시각적 도구를 사용하여 설계 및/또는 구성될 수도 있다. 몇몇 예에서, ADR 워크플로우는 산업용 X 선 이미징/스캐닝 시스템에 의해 생성될 수도 있는 것과 같은 이차원(2D) 및/또는 삼차원(3D) 방사선 촬영 이미지/스캔을 분석하기 위해 사용될 수도 있다. Described herein are examples of interfaces for designing and/or configuring custom assisted defect recognition (ADR) systems and/or workflows. In some examples, the ADR systems and/or workflows may be designed and/or configured using visual tools, such as, for example, node based processing tools. In some examples, the ADR workflows may be used to analyze two dimensional (2D) and/or three dimensional (3D) image scans, such as might be generated by industrial X-ray scanning systems.
Bibliography:Application Number: KR20237014835