광학 디바이스들을 위한 인라인 계측 시스템들, 장치, 및 방법들

본 개시내용의 실시예들은 증강, 가상, 및/또는 혼합 현실 애플리케이션들을 위한 광학 디바이스들에 관한 것이다. 하나 이상의 실시예들에서, 광학 디바이스 계측 시스템은 광학 디바이스들에 대한 복수의 제1 메트릭들 및 하나 이상의 제2 메트릭들을 측정하도록 구성되며, 하나 이상의 제2 메트릭들은 디스플레이 누설 메트릭(display leakage metric)을 포함한다. Embodiments of the present disclosure relate to optical devices for augmented, virtual, and...

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Main Authors SUN YANGYANG, GODET LUDOVIC, DAITO KAZUYA, FU JINXIN
Format Patent
LanguageKorean
Published 05.06.2023
Subjects
CALCULATING
COLORIMETRY
COMPUTING
COUNTING
ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
ELECTRICITY
IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT
MEASURING
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
OPTICS
PHYSICS
PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
RADIATION PYROMETRY
TESTING
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Summary:본 개시내용의 실시예들은 증강, 가상, 및/또는 혼합 현실 애플리케이션들을 위한 광학 디바이스들에 관한 것이다. 하나 이상의 실시예들에서, 광학 디바이스 계측 시스템은 광학 디바이스들에 대한 복수의 제1 메트릭들 및 하나 이상의 제2 메트릭들을 측정하도록 구성되며, 하나 이상의 제2 메트릭들은 디스플레이 누설 메트릭(display leakage metric)을 포함한다. Embodiments of the present disclosure relate to optical devices for augmented, virtual, and/or mixed reality applications. In one or more embodiments, an optical device metrology system is configured to measure a plurality of see-through metrics for optical devices.
Bibliography:Application Number: KR20237014348