Method and apparatus for detecting the remaining life of an electronic circuit

• Main Authors: YOO JIN HO, SEO DONG HWAN, KANG TAE YEOB, MIN JOON KI, PARK CHANG KUN
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 18.05.2023
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

According to the present invention, provided are a method and apparatus for analyzing a circuit fault using a scattering coefficient. More specifically, the method can be conducted by a radio frequency (RF) circuit fault detection apparatus which comprises: a target RF circuit; a resonator outputting an oscillation signal of a used frequency to one end of the target RF circuit; a measuring unit engaged with a front end of the target RF circuit and a rear end of the target RF circuit and measuring a reflected wave related to a scattering coefficient; and a controller determining that there is a fault if the reflection coefficient is equal to or higher than a preset critical value. The present invention is able to detect a fault occurring in a component or interconnect in an electronic circuit in an early stage, determine the cause for the fault, and detect even those faults which are not classified as an existing DC resistance by using the reflected wave measuring method. 본 발명에 따른 산란 계수를 이용한 회로 결함 분석 방법 및 장치가 제공된다. 구체적으로 대상 RF(Radio Frequency) 회로; 사용 주파수의 발진 신호를 상기 대상 RF 회로의 일단에 출력하는 공진기; 상기 대상 RF 회로의 전단 및 상기 대상 RF 회로의 후단에 결합되어 산란 계수와 관련된 반사 계수를 측정하는 측정기; 및 상기 반사 계수가 미리 설정된 임계값 이상인 경우, 결함으로 판정하는 컨트롤러를 포함하는 RF 회로 결함 검출 장치에 의해 수행될 수 있으며, 전자회로 내의 컴포넌트 또는 인터커넥트에 발생한 결함을 조기에 검출 하고, 결함의 원인에 대하여 판단하고, 반사파 측정법을 이용하여 기존의 DC 저항으로 구분되지 않는 결함도 검출할 수 있다.