테스트 장치, 제어 장치 시스템 및 테스트 방법

• Main Authors: SCHMIDTLEIN ANDREAS, LANGE SIMEON
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 11.01.2023
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

본 발명은, 전기 구성 요소(40-48)들 및/또는 도체 트랙 구조(50-58)들의 테스트를 위한 테스트 장치(10)를 제안하는 것이며, 테스트 장치(10)는 각각 하나의 전기 구성 요소(40-48) 및/또는 각각 하나의 도체 트랙 구조(50-58)의 수용을 위한 복수의 테스트 위치(20-28)들을 포함하고, 테스트 장치(10)는 테스트 위치(20-28)들 중 하나의 테스트 위치의 선택을 위한 선택 장치를 또한 포함하고, 테스트 장치(10)는 선택된 테스트 위치(20-28)에 배열된 전기 구성 요소(40-48) 및/또는 선택된 테스...