REPEATABLE IMPACT TEST APPARATUS AND METHOD FOR IMPACT TEST USING THE SAME
In an impact test device and an impact test method using the same, the impact test device performs an impact test on a specimen by dropping a dropping device. The impact test device includes a chamber part, a vacuum maintaining part, and a low temperature maintaining part. The chamber part includes...
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Format | Patent |
Language | English Korean |
Published |
06.01.2023
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Summary: | In an impact test device and an impact test method using the same, the impact test device performs an impact test on a specimen by dropping a dropping device. The impact test device includes a chamber part, a vacuum maintaining part, and a low temperature maintaining part. The chamber part includes an upper chamber in which the dropping device is located, and a lower chamber in which the specimen is located. The vacuum maintaining part is connected to the upper chamber to maintain the upper chamber in a vacuum state. The low temperature maintaining part is connected to the lower chamber to maintain the lower chamber at a low temperature. Accordingly, the impact test device can perform a repetitive impact test.
충격 시험장치 및 이를 이용한 충격 시험방법에서, 상기 충격 시험장치는 낙하장치가 낙하하여 시편에 대한 충격시험을 수행한다. 이 경우, 상기 충격 시험장치는 챔버부, 진공 유지부 및 저온 유지부를 포함한다. 상기 챔버부는 상기 낙하장치가 위치하는 상부챔버, 및 상기 시편이 위치하는 하부챔버를 포함한다. 상기 진공 유지부는 상기 상부챔버에 연결되어 상기 상부챔버를 진공 상태로 유지한다. 상기 저온 유지부는 상기 하부챔버에 연결되어 상기 하부챔버를 저온 상태로 유지한다. |
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Bibliography: | Application Number: KR20210085825 |