REPEATABLE IMPACT TEST APPARATUS AND METHOD FOR IMPACT TEST USING THE SAME

• Main Authors: KIM YONG JIN, LEE SUNG CHEUL, RO SEUNG KOOK, SHIN WOO JOO, KIM MYUNG SUNG, LEE TAE HYUN
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 06.01.2023
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

In an impact test device and an impact test method using the same, the impact test device performs an impact test on a specimen by dropping a dropping device. The impact test device includes a chamber part, a vacuum maintaining part, and a low temperature maintaining part. The chamber part includes an upper chamber in which the dropping device is located, and a lower chamber in which the specimen is located. The vacuum maintaining part is connected to the upper chamber to maintain the upper chamber in a vacuum state. The low temperature maintaining part is connected to the lower chamber to maintain the lower chamber at a low temperature. Accordingly, the impact test device can perform a repetitive impact test. 충격 시험장치 및 이를 이용한 충격 시험방법에서, 상기 충격 시험장치는 낙하장치가 낙하하여 시편에 대한 충격시험을 수행한다. 이 경우, 상기 충격 시험장치는 챔버부, 진공 유지부 및 저온 유지부를 포함한다. 상기 챔버부는 상기 낙하장치가 위치하는 상부챔버, 및 상기 시편이 위치하는 하부챔버를 포함한다. 상기 진공 유지부는 상기 상부챔버에 연결되어 상기 상부챔버를 진공 상태로 유지한다. 상기 저온 유지부는 상기 하부챔버에 연결되어 상기 하부챔버를 저온 상태로 유지한다.