핀셋, 반송 장치 및 시료편의 반송 방법

• Main Authors: NOMAGUCHI TSUNENORI, KAWANISHI SHINSUKE, SAMURA NAOKI, MAEDA YAKU
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 01.12.2022
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS; ELECTRICITY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

시료편(9)을 파지 가능한 핀셋(8)은, 파지 부재(8a1) 및 파지 부재(8a2)를 구비한다. 파지 부재(8a1)는, 파지 영역(8c1) 및 맞닿음 영역(8b1)을 갖고, 파지 부재(8a2)는, 파지 영역(8c2) 및 맞닿음 영역(8b2)을 갖는다. 파지 영역(8c1) 및 파지 영역(8c2)은, 각각 시료편(9)을 파지하기 위한 파지면(SF1) 및 파지면(SF2)을 포함한다. 맞닿음 영역(8b1)은, 파지면(SF1)으로부터 파지면(SF2)을 향하는 방향에 있어서, 파지 영역(8c1)으로부터 돌출하고, 맞닿음 영역(8b2)은 파지면(SF2)으로부터 파지면(SF1)을 향하는 방향에 있어서, 파지 영역(8c2)으로부터 돌출하고 있다. Tweezers 8, which can grip a sample piece 9, includes a gripping member 8a1 and a gripping member 8a2. The gripping member 8a1 includes a gripping region 8c1 and an abutment region 8b1, and the gripping member 8a2 includes a gripping region 8c2 and an abutment region 8b2. The gripping region 8c1 and the gripping region 8c2 include a gripping surface SF1 and a gripping surface SF2 for gripping the sample piece 9, respectively. The abutment region 8b1 protrudes from the gripping region 8c1 in a direction directed from the gripping surface SF1 to the gripping surface SF2, and the abutment region 8b2 protrudes from the gripping region 8c2 in a direction directed from the gripping surface SF2 to the gripping surface SF1.