임퓨터 모델의 구성 기술

• Main Authors: GKOROU DIMITRA, DOS SANTOS GUZELLA THIAGO, SAHRAEIAN REZA, BASTANI VAHID
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 21.11.2022
• Subjects: APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR; CALCULATING; CINEMATOGRAPHY; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS; COMPUTING; COUNTING; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; PHOTOGRAPHY; PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES,e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTORDEVICES; PHYSICS

제 2 파라미터를 임퓨테이션하기 위한 임퓨터 모델을 구성하는 장치 및 방법. 이러한 방법은, 제 1 파라미터의 값을 포함하는 제 1 데이터 세트를 임퓨터 모델에 입력하는 단계, 및 제 2 파라미터의 임퓨테이션된 값을 포함하는 제 2 데이터 세트를 획득하도록 상기 임퓨터 모델을 평가하는 단계를 포함한다. 이러한 방법은, 제 3 파라미터의 측정된 값을 포함하는 제 3 데이터 세트를 획득하는 단계 - 상기 제 3 파라미터는 제 2 파라미터에 상관됨 -; 상기 제 2 파라미터의 입력 값에 기반하여 상기 제 3 파라미터의 값을 추론하도록 구성된 예측 모델을 획득하는 단계; 상기 제 2 데이터 세트를 예측 모델에 입력하는 단계, 및 상기 제 3 파라미터의 추론된 값을 획득하도록 상기 예측 모델을 평가하는 단계; 및 상기 제 3 파라미터의 추론된 값 및 측정된 값의 비교에 기반하여 상기 임퓨터 모델을 구성하는 단계를 더 포함한다. Apparatus and methods of configuring an imputer model for imputing a second parameter. The method includes inputting a first data set including values of a first parameter to the imputer model, and evaluating the imputer model to obtain a second data set including imputed values of the second parameter. The method further includes obtaining a third data set including measured values of a third parameter, wherein the third parameter is correlated to the second parameter; obtaining a prediction model configured to infer values of the third parameter based on inputting values of the second parameter; inputting the second data set to the prediction model, and evaluating the prediction model to obtain inferred values of the third parameter; and configuring the imputer model based on a comparison of the inferred values and the measured values of the third parameter.