미세 단락을 검출하기 위한 방법, 테스트 스탠드 및 생산 라인

• Main Authors: WOEHRLE THOMAS, GOUVERNEUR MARTIN
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 21.11.2022
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRICITY; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSIONOF CHEMICAL INTO ELECTRICAL ENERGY; TESTING

전극 어셈블리(14) 내에서 미세 단락을 검출하기 위한 방법은 다음과 같은 단계들을 포함한다: 먼저, 하나 이상의 애노드 및 하나 이상의 캐소드를 갖는 전극 어셈블리(14)가 제공되며, 이때 각각의 애노드와 캐소드 사이에는 개방 다공성을 갖는 세퍼레이터가 삽입되어 있다. 그 다음에, 전극 어셈블리(14)의 임피던스가 측정되고, 측정된 임피던스가 기준 값과 비교된다. 측정된 임피던스가 기준 값으로부터 벗어나면, 미세 단락이 검출된다. 전극 어셈블리(14)는 적층되지 않았으며, 임피던스의 측정은 전해질이 도입되기 전에 그리고 전극 어셈블리(14)가 갈바니 소자 내에 설치되기 전에 이루어진다. 또한, 본 발명은 테스트 스탠드 및 생산 라인과도 관련이 있다. A method for detecting soft shorts in an electrode assembly includes the following steps. First, the electrode assembly having at least one anode and at least one cathode is provided, a separator having an open porosity being inserted between each anode and cathode. Subsequently, the impedance of the electrode assembly is measured and the measured impedance is compared with a reference value. A soft short is detected if the measured impedance deviates from the reference value. The electrode assembly is not laminated, and the impedance is measured prior to the introduction of electrolyte and the installation of the electrode assembly in a galvanic cell are provided. A test stand for the method and a production line using the test stand are disclosed.