SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD
A top plate is held by an opposing member holder in a first position and rotated together with a substrate holder while being held by a substrate holder in a second position. In a substrate processing apparatus, a first processing liquid supply unit, a second processing liquid supply unit, a nozzle...
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Format | Patent |
Language | English Korean |
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11.11.2022
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Summary: | A top plate is held by an opposing member holder in a first position and rotated together with a substrate holder while being held by a substrate holder in a second position. In a substrate processing apparatus, a first processing liquid supply unit, a second processing liquid supply unit, a nozzle moving mechanism are controlled by a control unit, so that a first processing liquid nozzle is located at a supply position in a holding portion of the top plate. In this state, a first processing liquid is supplied to a substrate through an opposing member opening, so that a first processing liquid nozzle moves from the supply position to a retracted position. Then, a second processing liquid nozzle is moved from the retracted position to the supply position, and a second processing liquid is supplied to the substrate through the opening of the opposing member. In this way, it is possible to suppress or prevent a mixture of a plurality of types of processing liquids, compared to the case where a plurality of types of processing liquids are sequentially supplied from one processing liquid nozzle.
탑 플레이트는, 제 1 위치에서 대향 부재 유지부에 의해 유지되고, 제 2 위치에서 기판 유지부에 의해 유지됨과 함께 기판 유지부와 함께 회전된다. 기판 처리 장치에서는, 제어부에 의해, 제 1 처리액 공급부, 제 2 처리액 공급부 및 노즐 이동 기구가 제어됨으로써, 제 1 처리액 노즐이, 탑 플레이트의 피유지부 내의 공급 위치에 위치하는 상태에서, 대향 부재 개구를 통해 제 1 처리액이 기판에 공급되어, 제 1 처리액 노즐이 공급 위치로부터 퇴피 위치로 이동한다. 그리고, 제 2 처리액 노즐이 퇴피 위치로부터 공급 위치로 이동하고, 대향 부재 개구를 통해 제 2 처리액이 기판에 공급된다. 이로써, 1 개의 처리액 노즐로부터 복수 종류의 처리액을 순차적으로 공급하는 경우에 비하여, 복수 종류의 처리액의 혼액을 억제 또는 방지할 수 있다. |
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Bibliography: | Application Number: KR20220139443 |