INSPECTION DEVICE

• Main Authors: MAENAKA AKIHIRO, TSUTSUMI HIRONORI, NAKATANI MAKOTO, TARUMOTO YOSHINORI
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 08.11.2022
• Subjects: CALCULATING; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS; COMPUTING; COUNTING; IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

본 발명의 목적은 서로 겹칠 수 있는 복수의 물품을 포함한 상품의 검사 정밀도의 저하를 억제할 수 있는 검사 장치를 제공하는 것이다. X선 검사 장치(10)는 소정의 형상의 복수의 물품(A)이 수용된 상품(G)에 광(光)을 조사(照射)하고, 상품(G)을 투과한 광, 또는 상품(G)에 반사된 광으로부터 얻어진 검사 화상에 기초하여 상품(G)을 검사한다. X선 검사 장치(10)는 기억부(51), 학습부(52c), 검사부(52d)를 구비한다. 기억부(51)는 복수의 물품(A)이 서로 겹쳐 있는 상태의 상품(G)의 검사 화상을 적어도 교사 화상으로서 기억한다. 학습부(52c)는 기억부(51)에 기억되어 있는 교사 화상을 이용하는 기계 학습에 의해, 복수의 물품(A)이 서로 겹쳐 있는 상태의 상품(G)에 관한 특징을 취득한다. 검사부(52d)는 학습부(52c)가 취득한 특징을 이용하여 상품(G)을 검사한다.