SSE - Deep Learning-Based Framework For Identifying Sequence Patterns That Cause Sequence-Specific Errors SSES

• Main Authors: KASHEAGHIGHI DORNA, KIA AMIRALI, FARH KAI HOW
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 07.10.2022
• Subjects: CALCULATING; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS; COMPUTING; COUNTING; INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTEDFOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS; PHYSICS

개시된 기술은 서열-특정 오류(SSE)를 야기시키는 서열 패턴을 식별하는, 심층 학습-기반 프레임워크를 나타낸다. 시스템 및 방법은 서열 패턴과 거짓 변이체 호출 간의 원인 의존성을 학습하기 위해 대규모 변이 데이터 상에 변이체 필터를 트레이닝한다. 변이체 필터는 딥 신경망, 예를 들어, 컨볼루션 신경망 및 완전-연결 신경망 상에 구축된 계층적 구조를 갖는다. 시스템 및 방법은 변이체 필터링에 대한 이의 효과를 위한 공지된 서열 패턴을 시험하기 위해 변이체 필터를 이용하는 시뮬레이션을 구현한다. 시뮬레이션의 전제는 하기와 같다: 시...