에러 요인의 추정 장치 및 추정 방법

• Main Authors: ISHIKAWA MASAYOSHI, HAYAKAWA KOUICHI, SASAJIMA FUMIHIRO, YOSHIDA YASUHIRO, TAKANO MASAMI
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 06.10.2022
• Subjects: CALCULATING; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS; COMPUTING; COUNTING; PHYSICS

에러 요인의 추정 장치는, 외부로부터 보내진 데이터를 사용하여 기계 학습 모델에 적합한 특징량을 생성하는 특징량 생성부와, 특징량을 입력 데이터로서 에러 발생의 유무의 판정에 사용되는 에러 예측 모델을 적어도 하나 이상 갖는 모델 데이터베이스와, 에러 예측 모델의 예측 결과와 실제로 계측된 참된 에러 결과를 비교하여 에러 예측 모델의 성능을 평가하는 모델 평가부와, 모델 평가부에서 계산된 평가값이 미리 설정된 규정값 이상이 되는 에러 예측 모델을 모델 데이터베이스로부터 선정하는 모델 선정부와, 모델 선정부에서 선택되는 에러 예측 모델의 해당이 없는 경우에는, 계측된 에러에 대하여 새로운 에러 예측 모델을 생성하는 에러 예측 모델 생성부를 구비하고 있다. 이에 의해, 에러 요인의 사전의 애노테이션이 없어도, 발생하는 다종류의 에러에 대하여 그 요인을 추정할 수 있다. An error cause estimation device comprises a feature value generation unit for using data transmitted from the outside to generate feature values suitable for a machine learning model; a model database having a plurality of error prediction models, for determining whether an error has occurred using the feature values as input data; a model evaluation unit for evaluating the performance of an error prediction model by comparing a prediction result of the error prediction model and an actually measured error; a model selection unit for selecting from the model database an error prediction model for which an evaluation value calculated by the model evaluation unit is greater than or equal to a preset defined value; and an error prediction model generation unit for generating a new error prediction model with respect to the measured error when no corresponding error prediction model has been selected by the model selection unit.