Microscope and Method for Forming a Microscopic Image with an Extended Depth of Field

• Main Authors: SOHN JIN YOUNG, ILIOPOULOS PAVLOS, SEO CHEONG SOO, GAIDUK ALEXANDER, KARANIN ILJA, CHO GYOUNGIL
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 26.09.2022
• Subjects: OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS

The present invention relates to a method for forming a microscopic image with an extended depth of field by a microscope. The microscope comprises an image sensor which comprises pixels arranged as a matrix formed by lines. In a step of the method, a plurality of microscopic frames of a specimen is acquired while a focus position (z) is changed. The microscopic frames are acquired line by line. A focus position (z) is changed over a course of acquiring individuals of the microscopic frames. In a further step, parts of individuals of the acquired lines are identified. These parts sharply image the specimen. The identified parts of the lines are composed in order to form a microscopic image of the specimen with an extended depth of field. Furthermore, the present invention relates to the microscope. 본 발명은 현미경에 의해서 피사계 심도가 확장된 현미경 이미지를 생성하는 방법에 관한 것이다. 현미경은 선에 의해 형성되는 행렬로서 배열되는 픽셀을 포함하는 이미지 센서를 포함한다. 방법의 단계에서, 초점 위치(z)가 변경되는 동안 표본의 복수의 현미경 프레임이 획득된다. 현미경 프레임은 선별로 획득된다. 초점 위치(z)는 현미경 프레임의 개체를 획득하는 과정에 걸쳐 변경된다. 추가 단계에서, 획득된 선의 개체의 일부가 식별된다. 이들 일부는 표본을 선명하게 이미지화한다. 식별된 선의 일부는 피사계 심도가 확장된 표본의 현미경 이미지를 형성하도록 구성된다. 또한, 본 발명은 현미경에 관한 것이다.