CAMERA MODULE TEST SOCKET

• Main Authors: LEE JUNG BEOM, CHOI CHAN GYU
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 01.09.2022
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

Disclosed is a test socket. The test socket of the present invention comprises: a base connected to a testing machine, used to test electronic parts, and having the electronic parts seated thereon; a cover opening or closing an upper part of the base; a substrate provided on the cover and electrically connected to a testing machine; a connection pin block coupled to the cover and having a plurality of through holes formed; a connection pin having one end unit connected to a connector of the electronic parts and each accommodated in the through holes; and a rubber pin member interposed between the connection pin block and the substrate. In addition, the rubber pin member includes: a rubber pad having a plurality of insertion holes formed; and an elastic conductor each inserted into the insertion holes and electrically connecting the other end part of the connection pin to an electrode of the substrate. According to the present invention, the test socket is provided which has high contact accuracy and constant operating load, improves a signal transmission speed compared to a pogo-type socket by reducing contact resistance, and increases a pin life. 테스트소켓이 개시된다. 본 발명의 테스트소켓은, 검사기와 연결되어 전자부품을 검사하는데 사용되고, 전자부품이 안착되는 베이스; 베이스의 상부를 개방하거나 폐쇄하는 커버; 커버에 구비되고, 검사기와 전기적으로 연결된 기판; 커버에 결합되고, 복수의 관통홀이 형성된 접속핀블록; 일단부가 전자부품의 커넥터에 접속되고, 관통홀에 각각 수용되는 접속핀; 및 접속핀블록과 기판 사이에 개재되는 러버핀부재를 포함하고, 러버핀부재는, 복수의 삽입홀이 형성된 러버패드; 및 삽입홀에 각각 삽입되고, 접속핀의 타단부를 기판의 전극에 전기적으로 연결하는 탄성도전체를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 접촉 정확도가 높고, 동작 하중이 일정하며, 접촉저항이 감소하여 포고형 소켓 대비 신호 전달 속도가 향상되면서도 핀 수명이 증가하도록 이루어지는 테스트소켓을 제공할 수 있게 된다.