ECC Storage device for reliability check using ECCError Correction Code data

Provided is a storage device for a reliability check using ECC (error correction code) data. The storage device includes a memory controller detecting the number of errors of second reading data read by a second reading operation based on ECC data of first reading data read by a first reading operat...

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Main Authors HWANG SANG WON, LEE JI SEOK, LEE SANG MU, YOON JAE EUN, SONG HWANG JU, KIM NAM YONG
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 07.07.2022
Subjects
CALCULATING
COMPUTING
COUNTING
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
INFORMATION STORAGE
PHYSICS
STATIC STORES
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Summary:Provided is a storage device for a reliability check using ECC (error correction code) data. The storage device includes a memory controller detecting the number of errors of second reading data read by a second reading operation based on ECC data of first reading data read by a first reading operation of a memory device. The memory controller includes a counter counting states of memory cells, a comparator comparing a counting number of each state, and a memory inspection circuit implemented as a register storing the number of errors based on a result of the comparison. ECC 데이터를 이용하여 신뢰성 검사를 수행하는 스토리지 장치가 제공된다. 스토리지 장치는 메모리 장치의 제1 읽기 동작에 의해 독출된 제1 읽기 데이터의 ECC 데이터에 근거하여 제2 읽기 동작에 의해 독출된 제2 읽기 데이터의 에러들의 수를 검출하는 메모리 콘트롤러를 포함한다. 메모리 콘트롤러는 메모리 셀들의 상태들을 카운트하는 카운터, 각 상태의 카운트 수를 비교하는 비교기, 및 비교 결과에 기초하여 에러들의 수를 저장하는 레지스터로 구현되는 메모리 검사 회로를 포함한다.
Bibliography:Application Number: KR20200188210