CALIBRATION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE SAME

• Main Author: HONG YUN GI
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 21.06.2022
• Subjects: ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE; ELECTRICITY; INFORMATION STORAGE; PHYSICS; STATIC STORES; TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHICCOMMUNICATION

본 발명의 실시예에 따른 반도체 장치는, 제 1 패드와 연결되며, 상기 제 1 패드를 통해 데이터가 입출력되는 노멀 동작 시 제 1 제어 코드 및 제 2 제어 코드에 따라 터미네이션 저항을 제공하는 터미네이션 회로; 상기 노멀 동작 시 상기 터미네이션 회로에 인가되는 스트레스를 모사하여, 제 2 캘리브레이션 모드 시 감지 코드를 생성하는 스트레스 모사 회로; 제 1 캘리브레이션 모드 시, 제 2 패드에 연결되는 저항부의 임피던스가 상기 제 2 패드에 연결되는 외부 저항과 동일하도록 상기 제 1 제어 코드를 조정하는 제 1 캘리브레이션 회로; 및 상기 제 2 캘리브레이션 모드 시, 상기 감지 코드에 따라 상기 제 1 제어 코드를 조절하여 상기 제 2 제어 코드를 생성하는 제 2 캘리브레이션 회로를 포함할 수 있다. A semiconductor device which includes a termination circuit coupled to a first pad and suitable for providing a termination resistance according to a first control code and a second control code during a normal operation in which data are input and output through the first pad; a stress replica circuit suitable for replicating a stress applied to the termination circuit during the normal operation and for generating a detection code during a second calibration mode; a first calibration circuit suitable for adjusting the first control code to match an impedance of a resistor part coupled to a second pad to an external resistor during a first calibration mode; and a second calibration circuit suitable for generating the second control code by adjusting the first control code according to the detection code during the second calibration mode.