금속 표면 상의 헤테로사이클릭 패시베이션 막의 선택적 증착

선택적 증착 방법들이 기술된다. 패시베이션 막(passivation film)이 유전체 재료의 증착 전에 금속 표면 상에 증착된다. 방법들은 금속 표면 및 유전체 표면을 포함하는 기판을 프로세싱 챔버에서 헤드기(head group) 및 테일기(tailgroup)를 포함하는 헤테로사이클릭 반응물에 노출시키는 단계 및 금속 표면 상에 헤테로사이클릭 반응물을 선택적으로 증착시켜 패시베이션 층을 형성하는 단계를 포함하며, 헤테로사이클릭 헤드기는 상기 금속 표면과 선택적으로 반응하고 결합한다. Methods of patterning semi...

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Main Authors YONG DOREEN WEI YING, SUDIJONO JOHN, WANG YONG, BHUYAN BHASKAR JYOTI
Format Patent
LanguageKorean
Published 10.05.2022
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Summary:선택적 증착 방법들이 기술된다. 패시베이션 막(passivation film)이 유전체 재료의 증착 전에 금속 표면 상에 증착된다. 방법들은 금속 표면 및 유전체 표면을 포함하는 기판을 프로세싱 챔버에서 헤드기(head group) 및 테일기(tailgroup)를 포함하는 헤테로사이클릭 반응물에 노출시키는 단계 및 금속 표면 상에 헤테로사이클릭 반응물을 선택적으로 증착시켜 패시베이션 층을 형성하는 단계를 포함하며, 헤테로사이클릭 헤드기는 상기 금속 표면과 선택적으로 반응하고 결합한다. Methods of patterning semiconductor devices comprising selective deposition methods are described. A blocking layer is deposited on a metal surface of a semiconductor device before deposition of a dielectric material on a dielectric surface. Methods include exposing a substrate surface including a metal surface and a dielectric surface to a heterocyclic reactant comprising a headgroup and a tailgroup in a processing chamber and selectively depositing the heterocyclic reactant on the metal surface to form a passivation layer, wherein the heterocyclic headgroup selectively reacts and binds to the metal surface.
Bibliography:Application Number: KR20217040631