X- 3 3D MATERIAL ANALYSIS DEVICE AND ANALYSIS METHOD USING X-RAY ENERGY

• Main Authors: WOO SEONG CHEOL, JIN KYUNG CHAN, LEE SUNG HO, EUN YOUNG KEE
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 05.04.2022
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

The present invention relates to a three-dimensional substance analysis apparatus using X-ray energy, and an analysis method thereof and, more specifically, to a three-dimensional substance analysis apparatus using X-ray energy, capable of deriving the components and spatial position of a moving three-dimensional substance, and an analysis method thereof. To achieve the purpose, the three-dimensional substance analysis apparatus using X-ray energy includes: a plurality of radiation parts provided on one side of a subject, and individually radiating X-rays having different energy levels toward the subject; a receiving part provided on the other side of the subject, and receiving the X-rays penetrating a target object in the subject or reflected from the target object after being radiated from the radiation parts; and an analysis part analyzing an X-ray signal received by the receiving part to derive the position and components of the target object. 본 발명은 X-선 에너지를 이용한 3차원 물질 분석장치 및 분석방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 이동하는 3차원 물질의 성분 및 공간상의 위치를 도출하기 위한 X-선 에너지를 이용한 3차원 물질 분석장치 및 분석방법에 관한 것이다. 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 구성은 대상물의 일측에 복수개로 마련되며, 각각 상기 대상물을 향해 서로 다른 에너지 준위를 갖는 X-선을 조사하도록 마련된 조사부; 상기 대상물의 타측에 마련되며, 상기 조사부로부터 조사되어 상기 대상물 내 타겟물체를 투과하거나 상기 타겟물체로부터 반사된 X-선을 수신하도록 마련된 수신부; 및 상기 수신부가 수신한 X-선 신호를 분석하여 상기 타겟물체의 위치 및 성분을 도출하도록 마련된 분석부를 포함하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 X-선 에너지를 이용한 3차원 물질 분석장치를 제공한다.