초음파 검사 장치 및 초음파 검사 방법

• Main Authors: KIKUCHI OSAMU, KOBAYASHI MASAYUKI, OONO SHIGERU, SAKAI KAORU, KIKUKAWA KOTARO
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 17.03.2022
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

검사 대상물의 내부 결함을 적절하게 검출할 수 있는 초음파 검사 장치를 제공한다. 그를 위해, 초음파 검사 장치는, 초음파를 발생시켜 검사 대상물에 송신하고, 상기 검사 대상물로부터 반사된 반사파를 수신하는 초음파 탐촉자와, 연산 처리부를 구비하고, 상기 연산 처리부는: (A) 상기 반사파의 해석 대상의 개시 시간과 시간 폭을 나타내는 게이트를 설정하고, (B) 복수의 측정점의 각각에 관해: (B1) 상기 반사파의 시간마다의 강도를 나타내는 반사 신호를 취득하고, (B2) 상기 반사 신호와 참조 신호의 차분인 차분 신호를 산출하고, (B3) 상기 게이트 내의 상기 차분 신호에 대해 특징량을 산출하고, (C) 복수의 상기 측정점에 대한 상기 특징량에 기초하여 결함을 검출하고, (D) 상기 초음파의 송신 방향을 따른 상기 결함의 깊이를 나타내는 정보를 출력한다. Provided is an ultrasonic testing device with which it is possible to suitably detect internal defects in an article to be tested. For this purpose, the ultrasonic testing device comprises: an ultrasonic probe that generates ultrasonic waves and transmits the same to the article to be tested, and that receives reflected waves reflected from the article to be tested; and a computation processing unit. The computation processing unit: (A) sets a gate indicating a start time and a time duration for a subject of analysis of the reflected waves; (B) as pertains to each of a plurality of measurement points, (B1) acquires a reflection signal indicating the intensity of the reflected waves at each time, (B2) calculates a difference signal that is the difference between the reflection signal and a reference signal, and (B3) calculates a feature amount with respect to the difference signal within the gate; (C) detects defects on the basis of the feature amounts for the plurality of measurement points; and (D) outputs information indicating the depth of the defects along the transmission direction of the ultrasonic waves.