Method for Photometric Characterization of the Optical Radiation Characteristics of Light Sources and Radiation Sources

• Main Authors: SCHWANENGEL CHRISTIAN, KRUEGER UDO, TRAMPERT KLAUS
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 25.01.2022
• Subjects: COLORIMETRY; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; MEASURING; PHYSICS; RADIATION PYROMETRY; TESTING; TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES; TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR

The present invention relates to a method for photometrical charting of a light source (Q, 3) clamped within a positioning device (1) and stationary relative to an object coordinate system (T) by means of a luminance density measurement camera (4) arranged stationary relative to a world coordinate system (W). The light source (Q, 3) is moved between a first actual measurement position (P1') and at least one further actual measurement position (P2' to P5') along a kinematic chain of the positioning device (1) within the world coordinate system (W), wherein a luminance density measurement image (81 to 85) describing the spatial distribution of a photometric characteristic within a measurement surface is recorded by means of the luminance density measurement camera (4) in each actual measurement position (P1' to P5') with the light source (Q, 3) turned on, and wherein the position and/or orientation of the object coordinate system (T) relative to the world coordinate system (W) is recorded in each actual measurement position (P1' to P5') in direct reference to the world coordinate system (W) without reference to the kinematic chain of the positioning device (1). Moreover, the present invention relates to the use of the method for photometric charting of a headlight (3). 본 발명은, 위치설정 장치(1) 내에 클램핑되고 세계 좌표계(W)에 대하여 고정 배치된 휘도 밀도 측정 카메라(4)에 의한, 객체 좌표계(T)에 대하여 고정된 광원(Q, 3)의 측광 차트화 방법에 관한 것으로서, 광원(Q, 3)은, 세계 좌표계(W) 내의 위치설정 장치(1)의 운동학적 체인을 따라 제1 실제 측정 위치(P1')와 적어도 하나의 추가 실제 측정 위치(P2' 내지 P5') 간에 이동되고, 측정 표면 내의 측광 특성의 공간 분포를 기술하는 휘도 밀도 측정 화상(81 내지 85)은, 광원(Q, 3)이 턴온된 상태에시 각 실제 측정 위치(P1' 내지 P5')에서 휘도 밀도 측정 카메라(4)에 의해 기록되고, 세계 좌표계(W)에 대한 객체 좌표계(T)의 위치 및/또는 배향은, 위치설정 장치(1)의 운동학적 체인을 참조하지 않고 세계 좌표계(W)를 직접 참조하여 각 실제 측정 위치(P1' 내지 P5')에서 기록된다. 또한, 본 발명은 헤드라이트(3)의 측광 차트화를 위한 이러한 방법의 용도에 관한 것이다.