SYSTEM FOR DETECTING AND CHARACTERIZING INPUTS ON A TOUCH SENSOR
입력들을 특징화하기 위한 방법의 일 변형예는: 제1 힘 이미지를 생성하기 위해 제1 해상도에서 감지 전극들의 어레이를 스캔하는 단계; 제1 힘 이미지 내의 제1 힘 입력을 검출하는 단계; 제1 임계값을 초과하는 제1 힘 입력의 제1 기하학적 치수에 응답하여, 제1 힘 입력을 비-스타일러스 입력 유형으로 특징화하는 단계; 제1 힘 입력의 상기 제1 기하학적 치수가 제1 임계값 아래에 유지되는 것에 응답하여: 제2 해상도에서 감지 전극들의 어레이를 스캔하는 단계; 제2 힘 이미지 내의 제2 힘 입력을 검출하는 단계; 및, 제2 힘 입력...
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Format | Patent |
Language | English Korean |
Published |
30.12.2021
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Summary: | 입력들을 특징화하기 위한 방법의 일 변형예는: 제1 힘 이미지를 생성하기 위해 제1 해상도에서 감지 전극들의 어레이를 스캔하는 단계; 제1 힘 이미지 내의 제1 힘 입력을 검출하는 단계; 제1 임계값을 초과하는 제1 힘 입력의 제1 기하학적 치수에 응답하여, 제1 힘 입력을 비-스타일러스 입력 유형으로 특징화하는 단계; 제1 힘 입력의 상기 제1 기하학적 치수가 제1 임계값 아래에 유지되는 것에 응답하여: 제2 해상도에서 감지 전극들의 어레이를 스캔하는 단계; 제2 힘 이미지 내의 제2 힘 입력을 검출하는 단계; 및, 제2 힘 입력의 힘 크기 대 제2 힘 입력의 기하학적 치수의 비율이 제2 임계값을 초과하는 것에 응답하여, 제1 힘 입력을 스타일러스 입력 유형으로서 특징화하는 단계; 및 제1 힘 입력의 위치 및 유형을 출력하는 단계를 포함한다.
One variation of a method for characterizing inputs includes: scanning an array of sense electrodes at a first resolution to generate a first force image; detecting a first force input in the first force image; in response to a first geometry dimension of the first force input exceeding a first threshold, characterizing the first force input as a non-stylus input type; in response to the first geometry dimension of the first force input remaining below the first threshold: scanning the array of sense electrodes at a second resolution; detecting a second force input in a second force image; and, in response to a ratio of a force magnitude of the second force input to a geometry dimension of the second force input exceeding a second threshold, characterizing the first force input as a stylus input type; and outputting a location and a type of the first force input. |
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Bibliography: | Application Number: KR20217041913 |