측정 방법 및 장치
본 개시의 실시예는 측정 방법 및 장치를 제공한다. 상기 방법은, UE1의 MDT 구성 정보를 수신하는 단계; 구성 정보에 따라 MDT측정을 수행하여 UE1의 제1 측정 결과 및 UE2의 제2 측정 결과를 기록하는 단계;를 포함한다. Embodiments of the present disclosure provide a measurement method and a device. The method includes: receiving configuration information of MDT for UE 1; and performing...
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Format | Patent |
Language | Korean |
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23.09.2021
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Summary: | 본 개시의 실시예는 측정 방법 및 장치를 제공한다. 상기 방법은, UE1의 MDT 구성 정보를 수신하는 단계; 구성 정보에 따라 MDT측정을 수행하여 UE1의 제1 측정 결과 및 UE2의 제2 측정 결과를 기록하는 단계;를 포함한다.
Embodiments of the present disclosure provide a measurement method and a device. The method includes: receiving configuration information of MDT for UE 1; and performing MDT measurement based on the configuration information, and recording a first measurement result measured for the UE 1 and a second measurement result measured for UE 2. |
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Bibliography: | Application Number: KR20217025612 |