소프트 포스트/패키지 복구를 위한 장치 및 방법

본 발명의 실시형태는 소프트 포스트 패키지 복구(soft post-package repair; SPPR)를 위한 장치 및 방법에 주목하게 한다. 패키징 후에, 메모리의 행에 대해 포스트 패키지 복구 동작을 수행할 필요가 있을 수 있다. SPPR 동작의 스캔 모드 동안, 퓨즈 뱅크에 의해 제공된 주소는 주소가 개방 주소인지 또는 메모리의 불량 행이 메모리의 중복 행인지를 결정하기 위해 검사될 수 있다. 개방 주소 및 불량 중복 주소는 래치 회로에서와 같은 휘발성 저장 소자에 저장될 수 있다. SPPR 동작의 소프트 전송 모드 동안,...

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Main Author WILSON ALAN J
Format Patent
LanguageKorean
Published 30.08.2021
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Summary:본 발명의 실시형태는 소프트 포스트 패키지 복구(soft post-package repair; SPPR)를 위한 장치 및 방법에 주목하게 한다. 패키징 후에, 메모리의 행에 대해 포스트 패키지 복구 동작을 수행할 필요가 있을 수 있다. SPPR 동작의 스캔 모드 동안, 퓨즈 뱅크에 의해 제공된 주소는 주소가 개방 주소인지 또는 메모리의 불량 행이 메모리의 중복 행인지를 결정하기 위해 검사될 수 있다. 개방 주소 및 불량 중복 주소는 래치 회로에서와 같은 휘발성 저장 소자에 저장될 수 있다. SPPR 동작의 소프트 전송 모드 동안, 이전에 메모리의 불량 행과 연관된 주소는 대신에 개방 주소와 연관될 수 있고, 불량 중복 행의 주소는 디스에이블링(disabling)될 수 있다. Embodiments of the disclosure are drawn to apparatuses and methods for soft post-package repair (SPPR). After packaging, it may be necessary to perform post-package repair operations on rows of the memory. During a scan mode of an SPPR operation, addresses provided by a fuse bank may be examined to determine if they are open addresses or if the bad row of memory is a redundant row of memory. The open addresses and the bad redundant addresses may be stored in volatile storage elements, such as in latch circuits. During a soft send mode of a SPPR operation, the address previously associated with the bad row of memory may be associated with the open address instead, and the address of the bad redundant row may be disabled.
Bibliography:Application Number: KR20217026376