HEATSINK CUTOUT AND INSULATING THROUGH SILICON VIAS TO CUT THERMAL CROSS-TALK
Embodiments disclosed in the present specification include an electronic package. In one embodiment of the present specification, the electronic package includes an interposer, a first die attached to the interposer, and a second die attached to the interposer. In one embodiment, the electronic pack...
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Format | Patent |
Language | English Korean |
Published |
17.08.2021
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Summary: | Embodiments disclosed in the present specification include an electronic package. In one embodiment of the present specification, the electronic package includes an interposer, a first die attached to the interposer, and a second die attached to the interposer. In one embodiment, the electronic package further includes a heatsink thermally coupled to the first die and the second die. In one embodiment, the heatsink has a first surface facing away from the first and second dies and a second surface facing the first and second dies. In one embodiment, the heatsink includes a thermal break between the first die and the second die. An objective of the present invention is to reduce thermal cross-talk.
본 명세서에 개시된 실시예는 전자 패키지를 포함한다. 일 실시예에서, 전자 패키지는 인터포저, 인터포저에 부착된 제 1 다이, 및 인터포저에 부착된 제 2 다이를 포함한다. 일 실시예에서, 전자 패키지는 제 1 다이 및 제 2 다이에 열적으로 결합된 히트싱크를 더 포함한다. 일 실시예에서, 히트싱크는 제 1 다이와 제 2 다이로부터 먼 쪽을 향하는 제 1 표면 및 제 1 다이와 제 2 다이를 향하는 제 2 표면을 갖는다. 일 실시예에서, 히트싱크는 제 1 다이와 제 2 다이 사이의 열 브레이크를 포함한다. |
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Bibliography: | Application Number: KR20200183981 |