3 WORD LINE STRUCTURE OF THREE-DIMENSIONAL MEMORY DEVICE
3차웜 메모리 소자의 구조 및 방법이 개시된다. 일례에서, 상기 메모리 소자는 기판; 상기 기판 위에 제1 방향을 따라 연장되는 제1 복수의 도체층을 포함하는 제1 길이의 도체층의 제1 티어를 포함한다. 상기 제1 방향은 상기 기판의 상면에 실질적으로 평행한다. 일부 실시예에서, 상기 메모리 소자는 또한 상기 제1 티어의 둘 이상의 도체층을 전도 가능하게 연결하는 하나 이상의 연결부; 및 상기 제1 티어의 연결된 도체층에 의해 전도 가능하게 공유되고 제1 금속 상호연결부에 연결된 제1 금속 콘택트 비아를 포함한다. A memory...
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Format | Patent |
Language | English Korean |
Published |
07.07.2021
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Summary: | 3차웜 메모리 소자의 구조 및 방법이 개시된다. 일례에서, 상기 메모리 소자는 기판; 상기 기판 위에 제1 방향을 따라 연장되는 제1 복수의 도체층을 포함하는 제1 길이의 도체층의 제1 티어를 포함한다. 상기 제1 방향은 상기 기판의 상면에 실질적으로 평행한다. 일부 실시예에서, 상기 메모리 소자는 또한 상기 제1 티어의 둘 이상의 도체층을 전도 가능하게 연결하는 하나 이상의 연결부; 및 상기 제1 티어의 연결된 도체층에 의해 전도 가능하게 공유되고 제1 금속 상호연결부에 연결된 제1 금속 콘택트 비아를 포함한다.
A memory device includes a substrate, a stack over the substrate, and a gate line slit extending along a first direction and dividing the stack into two portions. The stack includes a connection portion that connects the two portions of the stack. The connection portion includes at least two sub-connection portions along a second direction perpendicular to the first direction. The gate line slit includes at least two portions along the first direction. Each sub-connection portion is between adjacent two portions of the gate line slit. |
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Bibliography: | Application Number: KR20217020362 |