IMAGE ANALYSIS BASED ABNORMAL OBJECT DETECTION SYSTEM AND METHOD

• Main Author: SEO, EUN SEOK
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 07.06.2021
• Subjects: CALCULATING; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS; COMPUTING; CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; CONTROLLING; COUNTING; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS; PHYSICS; REGULATING

The present invention relates to an image analysis based abnormal object detection system and method, and more particularly, to an image analysis based abnormal object detection system and method that can detect the abnormal state of an object based on the image of capturing the object such as a person or a thing. To this end, the present invention includes a plurality of photographing means for photographing an object, and an object analysis terminal that has a defined reference learning model of an object belonging to the same group as the object, compares the object photographed by the photographing means with the reference learning model, and determines and detects everything except the one that matches the reference learning model as the abnormal state. 본 발명은 객체의 비정상을 식별하여 검출하는 시스템 및 방법에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 사람이나 사물과 같은 객체를 대상으로 촬영된 영상을 기반으로 해당 객체의 비정상 상태가 검출될 수 있도록 하는 이른바 영상 분석 기반 비정상 객체 검출 시스템 및 방법에 관한 것이다. 이를 위해 본 발명은, 객체를 촬영하기 위한 복수개의 촬영수단과, 상기 객체와 동일군에 속하는 객체의 기준 학습모델이 정의되어 있고, 상기 촬영수단이 촬영하는 객체 및 기준 학습모델을 비교하여 기준 학습모델과 일치하는 것을 제외한 모든 것을 비정상 상태로 판단하여 검출하기 위한 객체 분석단말기를 포함하는 것을 특징으로 한다.