IMAGE SENSOR

An objective of the present invention is to provide an image sensor capable of improving operating performance including noise characteristics. According to an embodiment of the present invention, the image sensor comprises: a pixel array having a plurality of pixels connected to row lines extended...

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Main Authors CHAE HEE SUNG, YOON SUK KI, JUNG YUN HWAN, KANG SUN YOOL, KIM KYUNG MIN, SUL HAE SICK, CHO YONG JUN
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 28.04.2021
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Summary:An objective of the present invention is to provide an image sensor capable of improving operating performance including noise characteristics. According to an embodiment of the present invention, the image sensor comprises: a pixel array having a plurality of pixels connected to row lines extended in a first direction and column lines extended in a second direction crossing the first direction; a ramp voltage generator which outputs a ramp voltage; a sampling circuit including a plurality of comparators each having a first input terminal connected to one among the column lines and a second input terminal receiving the ramp voltage; and an analog-digital converter which converts the output of the comparators into a digital signal. The comparators include a first sampler and a second comparator connected to a first column line and a second column line adjacent to each other in the first direction. The first comparator and the second comparator each includes a first transistor and a second transistor arranged in order in the second direction. The distance between the first transistor and the second transistor included in the first comparator is different from the distance between the first transistor and the second transistor included in the second comparator. 본 발명의 실시예에 따른 이미지 센서는, 제1 방향으로 연장되는 로우 라인들, 상기 제1 방향에 교차하는 제2 방향으로 연장되는 칼럼 라인들에 연결되는 복수의 픽셀들을 갖는 픽셀 어레이, 램프 전압을 출력하는 램프 전압 생성기, 상기 칼럼 라인들 중 하나에 연결되는 제1 입력단, 및 상기 램프 전압을 입력받는 제2 입력단을 각각 갖는 복수의 비교기들을 포함하는 샘플링 회로, 및 상기 비교기들의 출력을 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 컨버터를 포함하며, 상기 비교기들은, 상기 제1 방향에서 서로 인접하는 제1 칼럼 라인과 제2 칼럼 라인에 각각 연결되는 제1 샘플렁와 제2 비교기를 포함하며, 상기 제1 비교기와 상기 제2 비교기 각각은 상기 제2 방향을 따라 순서대로 배치되는 제1 트랜지스터 및 제2 트랜지스터를 포함하고, 상기 제2 방향에서, 상기 제1 비교기에 포함되는 상기 제1 트랜지스터와 상기 제2 트랜지스터 사이의 간격은, 상기 제2 비교기에 포함되는 상기 제1 트랜지스터와 상기 제2 트랜지스터 사이의 간격과 다르다.
Bibliography:Application Number: KR20190128980