초음파를 이용하여 이종 매체를 비침습적으로 특성화하기 위한 방법 및 시스템
제1 측면에서, 본 개시는 초음파를 사용하여 이종 매체를 비침습적으로 특성화하기 위한 시스템에 관한 것으로서, 상기 시스템은, 상기 이종 매체의 영역에서 일련의 입사 초음파를 생성하고 시간의 함수로서 상기 영역에 의해 후방 산란된 초음파를 기록하도록 구성된 적어도 하나의 제1 변환기 어레이(10); 및 변환기들의 상기 적어도 하나의 제1 어레이에 커플링되는 컴퓨팅 유닛(42)으로서, 입력에서 방출 베이스와 출력에서 상기 변환기 베이스 사이에 정의된 실험적 반사 행렬을 기록하며; 상기 실험적 반사 행렬로부터, 입력 및 출력에서 집속...
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Format | Patent |
Language | Korean |
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20.04.2021
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Summary: | 제1 측면에서, 본 개시는 초음파를 사용하여 이종 매체를 비침습적으로 특성화하기 위한 시스템에 관한 것으로서, 상기 시스템은, 상기 이종 매체의 영역에서 일련의 입사 초음파를 생성하고 시간의 함수로서 상기 영역에 의해 후방 산란된 초음파를 기록하도록 구성된 적어도 하나의 제1 변환기 어레이(10); 및 변환기들의 상기 적어도 하나의 제1 어레이에 커플링되는 컴퓨팅 유닛(42)으로서, 입력에서 방출 베이스와 출력에서 상기 변환기 베이스 사이에 정의된 실험적 반사 행렬을 기록하며; 상기 실험적 반사 행렬로부터, 입력 및 출력에서 집속 베이스에 정의된, 적어도 하나의 제1 광대역 반사 행렬을 결정하며; 상기 집속 베이스와 관찰 베이스 사이에서 정의된 제1 왜곡 행렬을 결정하며- 상기 제1 왜곡 행렬은, 상기 동일한 베이스들 사이에서, 모델 매체에 대해 정의된, 참조 반사 행렬의 위상 컨쥬게이트 행렬을 사용하여, 상기 집속 베이스와 수차 보정 베이스 사이에서 정의된, 상기 제1 광대역 반사 행렬의 텀-바이-텀 행렬 곱으로부터, 직접 또는 베이스의 변경 후에 생성됨 -; 및 상기 제1 왜곡 행렬로부터, 상기 이종 매체의 물리적 파라미터의 적어도 하나의 매핑을 결정하도록 구성된 컴퓨팅 유닛을 포함한다.
In a first aspect, the present description relates to a system for non-invasively characterizing a heterogeneous medium using ultrasound, comprising at least one first array (10) of transducers configured to generate a series of incident ultrasound waves in a region of said heterogeneous medium and record the ultrasound waves which are backscattered by said region as a function of time, as well as a computing unit (42) which is coupled to said at least one first array of transducers and configured to: record an experimental reflection matrix defined between an emission basis at the input and the basis of the transducers at the output; determine, from said experimental reflection matrix, at least one first wideband reflection matrix defined in a focused base at the input and output; determine a first distortion matrix defined between said focused basis and an observation basis, said first distortion matrix resulting, directly or after a change of basis, from the term-by-term matrix product of said first wideband reflection matrix defined between said focused basis and an aberration correction basis, with the phase-conjugated matrix of a reference reflection matrix defined for a model medium, between the same bases; determine, from said first distortion matrix, at least one mapping of a physical parameter of said heterogeneous medium. |
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Bibliography: | Application Number: KR20217003587 |