전자기 간섭 저항성 전자기기 엔클로저

• Main Authors: JAMES CLAYTON T, SMITH BRIAN T
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 14.04.2021
• Subjects: MEASURING; MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUIDLEVEL; METERING BY VOLUME; PHYSICS; TESTING

격벽(208)에 의해 분리되는, 본체(205)에 의해 각각 규정된 제1 격실(206) 및 제2 격실(207)을 갖는 EMI 저항성 전자기기 엔클로저(200)가 제공된다. 격벽(208)의 제1 구멍(209)은 제1 격실(206)과 제2 격실(207)을 연결한다. 제1 인터페이스 영역(211) 및 제2 인터페이스 영역(212)을 갖는 피드 스루 요소(210)가 제공되며, 하나 이상의 1차 전도체들(217)이 제1 인터페이스 영역(211)과 제2 인터페이스 영역(212) 사이에서 연장되고, 제1 인터페이스 영역(211)은 제1 격실(206)에 있으며, 제2 인터페이스 영역(212)은 제2 격실(207)에 있다. 전도성 바(232)는 피드 스루 요소(210)의 적어도 일부를 둘러싸고, 전도성 개스킷(220)은 본체(205)로부터 전도성 바(232)까지 연장되며, 접지 경로가 전도성 개스킷(220)을 갖는 전도성 바(232)와 본체(205) 사이에 형성된다. An EMI resistant electronics enclosure (200) is provided having a first compartment (206) and a second compartment (207), each defined by a body (205), being separated by a septum (208). A first aperture (209) in the septum (208) connects the first compartment (206) and the second compartment (207). A feed-through element (210) is provided having a first interface region (211) and a second interface region (212), wherein one or more primary conductors (217) extend between the first interface region (211) and the second interface region (212), and wherein the first interface region (211) resides in the first compartment (206), and the second interface region (212) resides in the second compartment (207). A conductive bar (232) circumscribes at least a portion of the feed-through element (210), and a conductive gasket (220) extends from the body (205) to the conductive bar (232), wherein a ground path is formed between the body (205) and the conductive bar (232) with the conductive gasket (220).