메모리 디바이스와 연관된 수신기를 위한 트레이닝 절차

• Main Authors: BROX MARTIN, RICHTER MICHAEL DIETER, MAYER PETER, HEIN THOMAS, SPIRKL WOLFGANG ANTON
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 25.03.2021
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING; INFORMATION STORAGE; PHYSICS; STATIC STORES

메모리 디바이스와 통신하는 심볼과 연관된 샘플링 시간 및 기준 전압에 대한 트레이닝 절차를 위한 시스템, 장치, 및 방법이 설명된다. 트레이닝 절차는 신호의 상이한 심볼에서 발생할 수 있는 변동을 보상하도록 구성될 수 있다. 예를 들면, 제1 단위 간격 내의 각각의 기준 전압에 대해 개별적인 트레이닝 동작이 수행될 수 있다. 이 개별적인 트레이닝 동작은 제1 단위 간격의 기준 전압이 동일한 단위 간격에서의 또는 상이한 단위 간격에서의 다른 기준 전압과 무관하게 배치 가능하도록 허용할 수 있다. 또 다른 예에서, 기준 전압과 연관된 샘플링 시간 동안 개별적인 트레이닝 동작이 수행될 수 있다. 이 개별적인 트레이닝 동작은 제1 단위 간격에서의 기준 전압과 연관된 샘플링 시간이 동일한 단위 간격에서의 또는 상이한 단위 간격에서의 다른 샘플링 시간과 무관하게 배치 가능하도록 허용할 수 있다. Systems, apparatuses, and methods for training procedures on reference voltages and sampling times associated with symbols communicated with a memory device are described. The training procedures may be configured to compensate for variations that may occur in different symbols of a signal. For example, an individual training operation may be performed for each reference voltage within a first unit interval. These individual training operations may allow a reference voltage of the first unit interval to be positionable independent of other reference voltages in the same unit interval or in different unit intervals. In another example, an individual training operation may be performed for the sampling time associated with a reference voltage. These individual training operations may allow a sampling time associated with a reference voltage in the first unit interval to be positionable independent of other sampling times in the same unit interval or in different unit intervals.