SYSTEMS AND METHODS FOR HANDLING ELECTRICAL COMPONENTS

• Main Author: GARCIA DOUGLAS J
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 11.03.2021
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PERFORMING OPERATIONS; PHYSICS; POSTAL SORTING; SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTEDPIECE-MEAL, e.g. BY PICKING; TESTING; TRANSPORTING

구성요소 핸들러(100)는 면(522)이 테스트 플레이트(102)에서 떨어져서 마주하기 위해 전기 구성요소(510)를 유지하도록 구성되는 다수의 구성요소 시트 장소들(500)을 각각 포함하는 다수의 원형 구성요소 시트 트랙들(104)을 포함하는 테스트 플레이트(102); 시트 트랙들(104)의 회전 경로를 따라 위치되는 구성요소 수용 시스템(114, 106, 300, 302, 306, 308, 310, 400, 402, 502, 및/또는 508); 구성요소 시트 장소(500)에 시트되는 각각의 전기 구성요소(510)와 전기적으로 접촉하는 구성요소 테스트 모듈 어셈블리(1502); 하나 이상의 수집 빈들(124); 및 상기 구성요소 테스트 모듈 어셈블리(1502)에서 수행되는 하나 이상의 테스트들에 기초하여 구성요소 시트 장소들(500)로부터 전기 구성요소들(510)의 일부를 수집하고 전기 구성요소들(510)을 빈들(124)로 지향시키는 수집 어셈블리(120)를 포함할 수 있다. A component handler (100) may include: a test plate (102) including multiple circular component-seating tracks (104) each including multiple component-seating sites (500) configured to retain an electrical component (510) such that its face (522) faces away from the test plate (102); a component receiving system (114, 106, 300, 302, 306, 308, 310, 400, 402, 502, and/or 508) positioned along a rotation path of the seating tracks (104); a component test module assembly (1502) for electrically contacting each electrical component (510) seated in a component-seating site (500); one or more collection bins (124); and a collection assembly (120) for collecting some of the electrical components (510) from component-seating sites (500) and directing the electrical components (510) into the bins (124) based on one or more tests conducted at the component test module assembly (1502).