ELECTRICAL COMPONENT TESTING METHOD AND TEST PROBE

• Main Authors: CHANG MIN HUNG, LEE CHING LIN, LIU MAO SHENG, CHANG CHIN YUAN, PAN CHENG HUNG, CHAO TZU TU
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 17.09.2020
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

The present invention is applicable to various patterned electrodes. Disclosed are a method for testing an electrical component and a test probe. The electrical component comprises at least a first electrode and a second electrode. The method comprises the steps of: covering the first electrode with a first conductive flexible layer; driving a first electrode contact point to electrically connect the first electrode and a first end of the first electrode contact point through the first conductive flexible layer; covering the second electrode with a second conductive flexible layer; and driving the second electrode to electrically connect the second electrode and a second end of a second electrode contact point through the second conductive flexible layer. The first conductive flexible layer is an anisotropic conductive film. 전기 부품을 테스트하기 위한 방법 및 테스트 프로브가 개시된다. 전기 부품은 적어도 제1 전극 및 제2 전극을 포함한다. 방법은: 제1 전도 가요성 층으로 제1 전극을 덮는 단계; 제1 전도 가요성 층을 통해 제1 전극과 제1 전극 접점의 제1 단부를 전기적으로 연결하도록 제1 전극 접점을 구동시키는 단계; 제2 전도 가요성 층으로 제2 전극을 덮는 단계 및 제2 전도 가요성 층을 통해 제2 전극과 제2 전극 접점의 제2 단부를 전기적으로 연결시키도록 제2 전극을 구동시키는 단계;를 포함한다. 제1 전도 가요성 층은 이방성 전도 필름이다.