반도체 디바이스의 제조 과정에서 규소-게르마늄/규소 스택으로부터 규소 및 규소-게르마늄 합금을 동시 제거하기 위한 에칭 용액

마이크로전자 디바이스로부터 규소 및 규소-게르마늄을 동시적으로 제거하기 위해 적합한 에칭 용액이 기재되어 있으며, 이는 물; 산화제; 아민 화합물(또는 암모늄 화합물) 및 다작용성 유기산을 포함하는 버퍼 조성물; 수혼화성 용매; 및 불화물 이온 공급원을 포함한다. Described herein is an etching solution suitable for the simultaneous removal of silicon and silicon-germanium from a microelectronic device, which comp...

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Main Authors ADAMCZYK ANDREW J, LEE YI CHIA, LIU WEN DAR, KUO CHI HSIEN, GE JHIH KUEI
Format Patent
LanguageKorean
Published 13.05.2020
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Summary:마이크로전자 디바이스로부터 규소 및 규소-게르마늄을 동시적으로 제거하기 위해 적합한 에칭 용액이 기재되어 있으며, 이는 물; 산화제; 아민 화합물(또는 암모늄 화합물) 및 다작용성 유기산을 포함하는 버퍼 조성물; 수혼화성 용매; 및 불화물 이온 공급원을 포함한다. Described herein is an etching solution suitable for the simultaneous removal of silicon and silicon-germanium from a microelectronic device, which comprises: water; an oxidizer; a buffer composition comprising an amine compound (or ammonium compound) and a polyfunctional organic acid; a water-miscible solvent; and a fluoride ion source.
Bibliography:Application Number: KR20207012738