SYSTEM AND METHOD FOR EVALUATING QUALITY OF DIFFRACTIVE LIGHT GUIDE

• Main Authors: KIM BONG JUN, YUN MIN HYUK, LEE YEON KEUN
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 08.05.2020
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING; TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES; TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR

An embodiment of the present invention relates to a system for evaluating the quality of a diffraction light guide plate, which comprises: a light guide unit to guide light; and a plurality of diffraction optical elements to separate light in a specific wavelength range. Here, among the plurality of diffraction optical elements, one is an input diffraction optical element into which light outputted from a light source is inputted and which diffracts the inputted light such that the same may be guided on the light guiding unit, whereas the other one is an output diffraction optical element which allows the light guided on the light guiding unit to be outputted from the light guiding unit through diffraction. In particular, the system for evaluating the quality of a diffraction light guide plate further comprises: a light source module which allows a plurality of incident lights, which are overlapped with the specific wavelength range and have different wavelength ranges from each other, to be incident along the input diffraction optical element area of the diffraction light guide plate at the identical incidence angle; and a photographing module which photographs after classifying a plurality of emitting lights which are emitted from the output diffraction optical element area of the diffraction light guide plate and have wavelength ranges different from each other. 본 발명의 일 측면에 따른 일 실시형태는 광을 안내하기 위한 광가이드부와, 특정 파장대역의 광을 분리하는 복수의 회절 광학소자를 구비하며, 상기 복수의 회절 광학소자 중 어느 하나는 광원으로부터 출력된 광이 입력되어 상기 광가이드부 상에서 안내될 수 있도록 상기 입력된 광을 회절시키는 입력 회절 광학소자이고, 다른 하나는 상기 광가이드부 상에서 안내되는 광이 회절에 의해 상기 광가이드부로부터 출력되도록 구성되는 출력 회절 광학소자인 회절 도광판의 품질을 평가하기 위한 시스템으로서, 상기 특정 파장대역과 중첩되되 서로 다른 파장대역을 가지는 복수의 입사광을 동일한 입사각으로 상기 회절 도광판의 입력 회절 광학소자 영역에 입사시키는 광원모듈; 및 상기 회절 도광판의 출력 회절 광학소자 영역으로부터 출사되는 상기 서로 다른 파장대역을 가지는 복수의 출사광을 구별하여 촬상하는 촬상모듈;을 포함하는 회절 도광판 품질 평가 시스템을 제공한다.