샘플의 성분 결정을 위한 형광 측정 장치, 시스템 및 방법

단일 파장 광원(104)은 여기 광빔(excitation light beam)을 생성하도록 구성된다. 내부 공동을 획정하는 샘플 홀더(102)는 샘플을 유지할 수 있고, 여기 광빔에 대해 투과성인 표면을 포함한다. 하나 이상의 장착부가 광원(104) 또는 샘플 홀더(102) 중 하나 이상에 부착된다. 장착부는 샘플 홀더의 표면에 대한 여기 광빔(106)의 입사각을 변경하도록 구성된다. 하나 이상의 광학 구성요소가 표면으로부터 방출되는 형광 방출물(110)의 경로에 위치 설정되고, 형광 방출물(110)을 검출기(112)로 안내한다....

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Main Authors HEGAZI EZZAT, CUNNINGHAM VINCENT
Format Patent
LanguageKorean
Published 28.04.2020
Subjects
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
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Summary:단일 파장 광원(104)은 여기 광빔(excitation light beam)을 생성하도록 구성된다. 내부 공동을 획정하는 샘플 홀더(102)는 샘플을 유지할 수 있고, 여기 광빔에 대해 투과성인 표면을 포함한다. 하나 이상의 장착부가 광원(104) 또는 샘플 홀더(102) 중 하나 이상에 부착된다. 장착부는 샘플 홀더의 표면에 대한 여기 광빔(106)의 입사각을 변경하도록 구성된다. 하나 이상의 광학 구성요소가 표면으로부터 방출되는 형광 방출물(110)의 경로에 위치 설정되고, 형광 방출물(110)을 검출기(112)로 안내한다. 검출기(112)는 형광 방출물(110)의 강도를 검출한다. A single-wavelength light source is configured to generate an excitation light source. A sample holder that defines an inner cavity is capable of holding a sample and includes a surface transparent to the excitation light source. One or more mounts are attached to at least one of the light source or the sample holder. The mounts are configured to change an incident angle of the excitation light source on the surface. One or more optical components are positioned in a path of a fluorescence emission emitted from the surface and guide the fluorescence emission to a detector. A detector detects an intensity of the fluorescence emission.
Bibliography:Application Number: KR20207007945