집적 회로들을 위한 로직 분석기

집적 회로에서 신호들을 모니터링하는 것은, 집적 회로(100) 내에 구현된 로직 분석기 회로(110)를 사용하여 집적 회로(100)의 프로빙된 신호(probed signal)를 모니터링하는 단계(405), 로직 분석기 회로(110)를 사용하여 프로빙된 신호의 상태 변화들을 검출하는 단계(415), 및 로직 분석기 회로(110) 내에서, 프로빙된 신호의 타임 스탬핑된 상태 변화들을 특정하는 파일(120)을 생성하는 단계(430)를 포함할 수 있다. Monitoring signals in an integrated circuit can...

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Main Authors MAHAJAN AKHILESH, CHERUKU KESHAVA GOPAL GOUD, KRISHNA BOKKA ABHIRAM SAI
Format Patent
LanguageKorean
Published 30.03.2020
Subjects
CALCULATING
COMPUTING
COUNTING
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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Summary:집적 회로에서 신호들을 모니터링하는 것은, 집적 회로(100) 내에 구현된 로직 분석기 회로(110)를 사용하여 집적 회로(100)의 프로빙된 신호(probed signal)를 모니터링하는 단계(405), 로직 분석기 회로(110)를 사용하여 프로빙된 신호의 상태 변화들을 검출하는 단계(415), 및 로직 분석기 회로(110) 내에서, 프로빙된 신호의 타임 스탬핑된 상태 변화들을 특정하는 파일(120)을 생성하는 단계(430)를 포함할 수 있다. Monitoring signals in an integrated circuit can include monitoring a probed signal of an integrated circuit using a logic analyzer circuit implemented within the integrated circuit, detecting state changes in the probed signal using the logic analyzer circuit, and generating, within the logic analyzer circuit, a file specifying time stamped state changes of the probed signal.
Bibliography:Application Number: KR20207003990