METHOD FOR MONITORING TRACE EVIDENCES USING SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY AND PRINCIPAL COMPONENT ANALYSIS

• Main Authors: NAM YUN SIK, TERLIER TANGUY GILBERT DENIS, LEE KANG BONG, LEE JIHYE, LEE YEON HEE
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 17.03.2020
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

The present invention relates to a method for identifying residues on a trace evidence by using secondary ion mass spectrometry. According to an embodiment of the present invention, a trace evidence identification method for identifying residues on a trace evidence comprises the steps of: generating a two-dimensional ion image of a target sample by using secondary ion mass spectrometry; constructing a mass spectrum of a region of interest by selecting the region of interest with residues from the two-dimensional ion image; collecting, from the mass spectrum, the mass values and the secondary ion intensities at the peaks; performing principal component analysis on the collected mass values and secondary ion intensities; and searching a previously built database for a sample satisfying a preset equality condition, based on a principal component analysis result. 본 발명은 이차이온 질량분석기를 이용하여 흔적증거물에 묻어 있는 잔류물에 대한 감식방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 흔적증거물에 묻은 잔류물을 감식하기 위한 흔적증거물 감식방법은, 이차이온 질량분석기를 이용하여 대상시료에 대하여 2차원 이온이미지를 생성하는 단계, 상기 2차원 이온이미지로부터 잔류물이 묻은 관심영역을 선택하여 상기 관심영역에 대한 질량스펙트럼을 구성하는 단계, 상기 질량스펙트럼에서 피크들의 질량값과 이차이온세기를 수집하는 단계, 상기 수집된 질량값과 이차이온세기를 주성분 분석하는 단계, 및 상기 주성분 분석 결과에 기반하여, 미리 구성된 데이터베이스에서 미리 설정된 동등성 조건을 만족하는 시료를 검색하는 단계를 포함한다.