광학 거부 광자 구조체들

• Main Authors: BEACH JAMES, JEWELL JACK, SCHMID GERARD, GONDARENKO ALEXANDER, GHASEMI FARSHID, FIFE KEITH G, PRESTON KYLE, ROTHBERG JONATHAN M, LACKEY JEREMY, KABIRI ALI
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 16.03.2020
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRICITY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS; SEMICONDUCTOR DEVICES; TESTING

병렬로 샘플들을 분석하기 위한 통합 디바이스 및 관련 기기들 및 시스템들이 설명된다. 통합 디바이스는 그 표면 상에 배열된, 개별 샘플 웰들이 여기 광에 반응하여 방출 광을 방출하도록 구성된 적어도 하나의 형광 마커로 라벨링된 샘플을 수용하도록 구성되는 샘플 웰들을 포함할 수 있다. 통합 디바이스는 통합 디바이스의 층에 배치된 광검출기들을 추가로 포함할 수 있고, 여기서 하나 이상의 광검출기는 샘플 웰로부터 방출된 방출 광의 광자를 수신하도록 배치된다. 통합 디바이스는 샘플 웰들과 광검출기들 사이에 배치된 하나 이상의 광자 구조체를 추가로 포함하고, 여기서 하나 이상의 광자 구조체는 방출 광에 대해 여기 광을 감쇠시키도록 구성되어, 하나 이상의 광검출기에 의해 생성된 신호가 방출 광의 광자들의 검출을 나타낸다. An integrated device and related instruments and systems for analyzing samples in parallel are described. The integrated device may include sample wells arranged on a surface of where individual sample wells are configured to receive a sample labeled with at least one fluorescent marker configured to emit emission light in response to excitation light. The integrated device may further include photodetectors positioned in a layer of the integrated device, where one or more photodetectors are positioned to receive a photon of emission light emitted from a sample well. The integrated device further includes one or more photonic structures positioned between the sample wells and the photodetectors, where the one or more photonic structures are configured to attenuate the excitation light relative to the emission light such that a signal generated by the one or more photodetectors indicates detection of photons of emission light.