공간 온도 프로파일을 검출하기 위한 센서 및 센서 유닛을 제조하기 위한 방법

• Main Authors: DIETMANN STEFAN, WIENAND KARLHEINZ, HELLMANN UWE, BLEIFUSS MARTIN, BOLDT KAI ULRICH, MUZIOL MATTHIAS, TEUSCH DIETER
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 26.02.2020
• Subjects: MEASURING; MEASURING QUANTITY OF HEAT; MEASURING TEMPERATURE; PHYSICS; TESTING; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR

본 발명은 공간 온도 프로파일을 검출하기 위한 센서 유닛에 관한 것으로서, 제1 표면 및 제1 표면에 적어도 부분적으로 대향하여 위치되는 제2 표면을 갖는 적어도 하나의 기판(3, 3'') - 상기 기판(3, 3'')은 적어도 부분적으로 가요성으로 형성됨 -; 적어도 하나의 접착 수단 - 상기 접착 수단은 센서 유닛을 적어도 하나의 측정 본체(15''')에 부착하기 위해, 제1 표면 상에 그리고/또는 제2 표면 상에 적어도 부분적으로 배치됨 -; 및 적어도 하나의 센서 필드 - 상기 센서 필드는 기판(3, 3'')의 제2 표면 상에 배치됨 - 를 포함한다. 또한, 본 발명은 센서 유닛을 제조하기 위한 방법에 관한 것이다. A sensor unit for detecting a spatial temperature profile, having at least one substrate with a first surface and a second surface situated at least regionally opposite the first surface. The substrate is configured at least regionally to be flexible. At least one adhesion means is arranged at least regionally on the first surface and/or on the second surface for attaching the sensor unit to at least one measurement body. At least one sensor field is arranged on the second surface of the substrate. One aspect also relates to a method for producing a sensor unit.