반도체 가공용 테이프

본 발명에 따른 반도체 가공용 테이프는, 기재층(基材層)과, 점착층과, 열경화성을 갖는 접착층이 이 순서로 적층되어 있고, 130℃에서 1시간의 경화 처리가 된 후에 있어서, 접착층의 수축률이 2% 미만이고 또한 접착층의 열시(熱時) 탄성률이 5 ㎫ 미만이다. 이 반도체 가공용 테이프는, 다이싱 다이본딩 테이프로서 사용할 수 있고, 예컨대, 반도체 장치의 제조 과정에 있어서의 임시 고정용 테이프로서도 사용할 수 있다. This tape for semiconductor processing includes a substrate laye...

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Main Authors IWANAGA YUKIHIRO, YAMAZAKI TOMOHARU, OHKUBO KEISUKE
Format Patent
LanguageKorean
Published 10.02.2020
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Summary:본 발명에 따른 반도체 가공용 테이프는, 기재층(基材層)과, 점착층과, 열경화성을 갖는 접착층이 이 순서로 적층되어 있고, 130℃에서 1시간의 경화 처리가 된 후에 있어서, 접착층의 수축률이 2% 미만이고 또한 접착층의 열시(熱時) 탄성률이 5 ㎫ 미만이다. 이 반도체 가공용 테이프는, 다이싱 다이본딩 테이프로서 사용할 수 있고, 예컨대, 반도체 장치의 제조 과정에 있어서의 임시 고정용 테이프로서도 사용할 수 있다. This tape for semiconductor processing includes a substrate layer, an adhesive layer, and a thermosetting adhesive layer, layered in this order. After being subjected to a curing treatment for 1 hour at 130°C, the shrinkage rate of the adhesive layer is less than 2% and the elastic modulus of the adhesive layer under a heated environment is less than 5 MPa. The tape for semiconductor processing can be used as a dicing/die-bonding tape, and also can be used as a tape for temporary anchoring during semiconductor device production, for instance.
Bibliography:Application Number: KR20197034587