MEASURING AND REMOVING THE CORRUPTION OF TIME-OF-FLIGHT DEPTH IMAGES DUE TO INTERNAL SCATTERING
Depth imagers can implement time-of-flight operations to measure depth or distance of objects. A depth imager can emit light onto a scene and sense light reflected back from the objects in the scene using an array of sensors. Timing of the reflected light hitting the array of sensors provides inform...
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Format | Patent |
Language | English Korean |
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31.12.2019
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Summary: | Depth imagers can implement time-of-flight operations to measure depth or distance of objects. A depth imager can emit light onto a scene and sense light reflected back from the objects in the scene using an array of sensors. Timing of the reflected light hitting the array of sensors provides information on the depth or distance of objects in the scene. In some cases, corrupting light that is outside of a field of view of a pixel in the array of sensors can hit a pixel due to internal scattering or internal reflections occurring in the depth imager. The corrupting light can corrupt the depth or distance measurement. To address the problem, an improved depth imager can isolate and measure the corrupting light due to internal scattering or internal reflections occurring in the depth imager and systematically remove the measured corrupting light from the depth or distance measurement.
깊이 이미저들은 오브젝트들의 깊이 또는 거리를 측정하기 위해 비행 시간 동작들을 구현할 수 있다. 깊이 이미저는 광을 씬으로 방출하며 센서들의 어레이를 사용하여 씬에서 오브젝트들로부터 다시 반사된 광을 감지할 수 있다. 센서들의 어레이에 부딪치는 반사된 광의 타이밍은 씬에서 오브젝트들의 깊이 또는 거리에 대한 정보를 제공한다. 몇몇 경우들에서, 센서들의 어레이에서 픽셀의 시야 밖에 있는 손상된 광은 깊이 이미저에서 발생한 내부 산란 또는 내부 반사로 인해 픽셀에 부딪칠 수 있다. 손상된 광은 깊이 또는 거리 측정을 손상시킬 수 있다. 이러한 무제를 처리하기 위해, 개선된 깊이 이미저는 깊이 이미저에서 발생한 내부 산란 또는 내부 반사들로 인한 손상된 광을 분리하고 측정하며, 깊이 또는 거리 측정으로부터 측정된 손상된 광을 체계적으로 제거할 수 있다. |
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Bibliography: | Application Number: KR20190068837 |