필름 및 필름의 제조 방법
25℃에서의 5% 신장시 응력 Ta가, 1.0MPa 이상 20.0MPa 이하이고, 120g/mm의 하중을 가하여, 25℃부터 160℃까지 승온 속도 10℃/분으로 승온했을 때의 90℃에서의 치수 변화율을 90℃ 치수 변화율 1, 90℃ 치수 변화율 1이 최대가 되는 방향을 X 방향, X 방향과 필름면 내에서 직교하는 방향을 Y 방향, X 방향의 90℃ 치수 변화율을 Tx1(%)이라 했을 때에, Tx1이 -10.00% 이상 10.00% 이하인 것을 특징으로 하는 필름. 가열 공정에 있어서 평면성을 유지할 수 있을 정도의 내열성, 및...
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Format | Patent |
Language | Korean |
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17.12.2019
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Summary: | 25℃에서의 5% 신장시 응력 Ta가, 1.0MPa 이상 20.0MPa 이하이고, 120g/mm의 하중을 가하여, 25℃부터 160℃까지 승온 속도 10℃/분으로 승온했을 때의 90℃에서의 치수 변화율을 90℃ 치수 변화율 1, 90℃ 치수 변화율 1이 최대가 되는 방향을 X 방향, X 방향과 필름면 내에서 직교하는 방향을 Y 방향, X 방향의 90℃ 치수 변화율을 Tx1(%)이라 했을 때에, Tx1이 -10.00% 이상 10.00% 이하인 것을 특징으로 하는 필름. 가열 공정에 있어서 평면성을 유지할 수 있을 정도의 내열성, 및 다이싱용 점착 필름 등으로서 사용하기에 충분한 유연성을 구비하는, 반도체 제조 공정용 기재로서 적합한 필름을 제공한다.
A film characterized by having a stress at 5% elongation at 25°C, Ta, of 1.0-20.0 MPa. In cases when dimensional change at 90°C during heating from 25°C to 160°C at a rate of 10 °C/min under a load of 120 g/mm2 is referred to as 90°C dimensional change 1 and when the direction in which the 90°C dimensional change 1 is maximum is referred to as X direction, the direction which is perpendicular to the X direction within the plane of the film is referred to as Y direction, and the X-direction 90°C dimensional change is expressed by T×1 (%), then the film is characterized in that T×1 is -10.00% or greater but not greater than 10.00%. The film has both heat resistance sufficient for maintaining the flatness in heating steps and flexibility sufficient for uses as a dicing pressure-sensitive adhesive film, etc., and is suitable for use as a substrate for semiconductor production steps. |
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Bibliography: | Application Number: KR20197029704 |