전자파 검출 장치, 프로그램, 및 정보 취득 시스템

전자파 검출 장치(10)는 전환부(16)와 제 1 검출부(19)와 제 2 검출부(20)를 가진다. 전환부(16)는 복수의 화소(px)가 배치된 작용면(as)을 가지고 있다. 전환부(16)는 화소(px)마다 제 1 상태와 제 2 상태로 전환 가능하다. 제 1 상태에서는 작용면(as)에 입사하는 전자파를 제 1 방향(d1)으로 진행시킨다. 제 2 상태에서는 작용면(as)에 입사하는 전자파를 제 2 방향(d2)으로 진행시킨다. 제 1 검출부(19)는 제 1 방향(d1)으로 진행한 전자파를 검출한다. 제 2 검출부(20)는 제 2 방향(d...

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Main Authors OKADA HIROKI, KANAYAMA YUKITOSHI, UCHIDA ERI, MINAGAWA HIROYUKI, TAKAYAMA YOSHITERU, KAWAI KATSUTOSHI, HASEBE ATSUSHI, ONO MITSUO
Format Patent
LanguageKorean
Published 20.09.2019
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Summary:전자파 검출 장치(10)는 전환부(16)와 제 1 검출부(19)와 제 2 검출부(20)를 가진다. 전환부(16)는 복수의 화소(px)가 배치된 작용면(as)을 가지고 있다. 전환부(16)는 화소(px)마다 제 1 상태와 제 2 상태로 전환 가능하다. 제 1 상태에서는 작용면(as)에 입사하는 전자파를 제 1 방향(d1)으로 진행시킨다. 제 2 상태에서는 작용면(as)에 입사하는 전자파를 제 2 방향(d2)으로 진행시킨다. 제 1 검출부(19)는 제 1 방향(d1)으로 진행한 전자파를 검출한다. 제 2 검출부(20)는 제 2 방향(d2)으로 진행한 전자파를 검출한다. An electromagnetic wave detection apparatus (10) includes a switch (16), a first detector (19), and a second detector (20). The switch (16) includes an action surface (as) with a plurality of pixels (px) disposed thereon. The switch (16) is configured to switch each pixel (px) between the first state and the second state. In the first state, the pixels (px) cause electromagnetic waves incident on the action surface (as) to travel in a first direction (d1). In the second state, the pixels (px) cause the electromagnetic waves incident on the action surface (as) to travel in a second direction (d2). The first detector (19) detects the electromagnetic waves that travel in the first direction (d1). The second detector (20) detects the electromagnetic waves that travel in the second direction (d2).
Bibliography:Application Number: KR20197023681