기판 처리 장치 및 기판 처리 방법

기판 처리 장치는, 기판을 유지하는 기판 유지 유닛과, 상기 기판을 처리하기 위한 처리액을 토출하기 위한 처리액 노즐과, 상기 처리액 노즐에 처리액을 공급하는 공급 배관과, 상기 공급 배관에 개재되어, 당해 공급 배관을 개폐하는 공급 밸브와, 상기 처리액 노즐로부터 토출된 처리액이며, 상기 기판 유지 유닛에 유지되어 있는 기판에 공급되지 않는 처리액이 흐르는 유통 배관과, 상기 공급 밸브로부터의 처리액의 누출을 검출하기 위한 누액 검출 유닛이며, 상기 유통 배관에 개재되어 당해 유통 배관을 개폐하는 유통 밸브와, 상기 유통 배관 중...

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Main Author NAKAI HITOSHI
Format Patent
LanguageKorean
Published 28.08.2019
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Abstract 기판 처리 장치는, 기판을 유지하는 기판 유지 유닛과, 상기 기판을 처리하기 위한 처리액을 토출하기 위한 처리액 노즐과, 상기 처리액 노즐에 처리액을 공급하는 공급 배관과, 상기 공급 배관에 개재되어, 당해 공급 배관을 개폐하는 공급 밸브와, 상기 처리액 노즐로부터 토출된 처리액이며, 상기 기판 유지 유닛에 유지되어 있는 기판에 공급되지 않는 처리액이 흐르는 유통 배관과, 상기 공급 밸브로부터의 처리액의 누출을 검출하기 위한 누액 검출 유닛이며, 상기 유통 배관에 개재되어 당해 유통 배관을 개폐하는 유통 밸브와, 상기 유통 배관 중 상기 유통 밸브보다 상류측의 상류측 영역에 모이는 처리액, 또는 상기 상류측 영역으로부터 분기하여, 상기 처리액을 모아 두는 것이 가능한 분기 영역에 모이는 처리액을 검출하기 위한 검출기를 갖고, 상기 공급 밸브 및 상기 유통 밸브의 닫힘 상태에 있어서 상기 상류측 영역 또는 상기 분기 영역에 모이는 처리액에 의거하여 상기 공급 밸브로부터의 누액을 검출하는 누액 검출 유닛을 포함한다. A substrate processing device includes: a substrate holding unit for holding a substrate; a process liquid nozzle for discharging a process liquid for processing the substrate; a supply pipe for supplying the process liquid to the process liquid nozzle; a supply valve set between the supply pipes and opening and closing the supply pipe; a circulation pipe through which a process liquid flows thathas been discharged from the process liquid nozzle and is not supplied to the substrate held by the substrate holding unit; and a leakage detection unit used for detecting the leakage of the process liquid from the supply valve, having a circulation valve set between the circulation pipes and opening and closing the circulation pipe and a detector for detecting the process liquid accumulated in anupstream side region of the circulation pipe on the upstream side with respect to the circulation valve or the process liquid accumulated in a branch region branched from the upstream side region andcapable of accumulating the process liquid, and detecting the liquid leaked from the supply valve on the basis of the process liquid accumulated in the upstream side region or the branch region whilethe supply valve and the circulation valve are closed.
AbstractList 기판 처리 장치는, 기판을 유지하는 기판 유지 유닛과, 상기 기판을 처리하기 위한 처리액을 토출하기 위한 처리액 노즐과, 상기 처리액 노즐에 처리액을 공급하는 공급 배관과, 상기 공급 배관에 개재되어, 당해 공급 배관을 개폐하는 공급 밸브와, 상기 처리액 노즐로부터 토출된 처리액이며, 상기 기판 유지 유닛에 유지되어 있는 기판에 공급되지 않는 처리액이 흐르는 유통 배관과, 상기 공급 밸브로부터의 처리액의 누출을 검출하기 위한 누액 검출 유닛이며, 상기 유통 배관에 개재되어 당해 유통 배관을 개폐하는 유통 밸브와, 상기 유통 배관 중 상기 유통 밸브보다 상류측의 상류측 영역에 모이는 처리액, 또는 상기 상류측 영역으로부터 분기하여, 상기 처리액을 모아 두는 것이 가능한 분기 영역에 모이는 처리액을 검출하기 위한 검출기를 갖고, 상기 공급 밸브 및 상기 유통 밸브의 닫힘 상태에 있어서 상기 상류측 영역 또는 상기 분기 영역에 모이는 처리액에 의거하여 상기 공급 밸브로부터의 누액을 검출하는 누액 검출 유닛을 포함한다. A substrate processing device includes: a substrate holding unit for holding a substrate; a process liquid nozzle for discharging a process liquid for processing the substrate; a supply pipe for supplying the process liquid to the process liquid nozzle; a supply valve set between the supply pipes and opening and closing the supply pipe; a circulation pipe through which a process liquid flows thathas been discharged from the process liquid nozzle and is not supplied to the substrate held by the substrate holding unit; and a leakage detection unit used for detecting the leakage of the process liquid from the supply valve, having a circulation valve set between the circulation pipes and opening and closing the circulation pipe and a detector for detecting the process liquid accumulated in anupstream side region of the circulation pipe on the upstream side with respect to the circulation valve or the process liquid accumulated in a branch region branched from the upstream side region andcapable of accumulating the process liquid, and detecting the liquid leaked from the supply valve on the basis of the process liquid accumulated in the upstream side region or the branch region whilethe supply valve and the circulation valve are closed.
Author NAKAI HITOSHI
Author_xml – fullname: NAKAI HITOSHI
BookMark eNrjYmDJy89L5WTQfbVjw9ueCQpvNs14vWyNwpt5S9_snKHwekO_AqrE6w0rX2-aysPAmpaYU5zKC6W5GZTdXEOcPXRTC_LjU4sLEpNT81JL4r2DjAwMLQ0MDQyMzSwcjYlTBQDz5zkS
ContentType Patent
DBID EVB
DatabaseName esp@cenet
DatabaseTitleList
Database_xml – sequence: 1
  dbid: EVB
  name: esp@cenet
  url: http://worldwide.espacenet.com/singleLineSearch?locale=en_EP
  sourceTypes: Open Access Repository
DeliveryMethod fulltext_linktorsrc
Discipline Medicine
Chemistry
Sciences
ExternalDocumentID KR20190100368A
GroupedDBID EVB
ID FETCH-epo_espacenet_KR20190100368A3
IEDL.DBID EVB
IngestDate Fri Jul 19 14:52:10 EDT 2024
IsOpenAccess true
IsPeerReviewed false
IsScholarly false
Language Korean
LinkModel DirectLink
MergedId FETCHMERGED-epo_espacenet_KR20190100368A3
Notes Application Number: KR20197022463
OpenAccessLink https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20190828&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20190100368A
ParticipantIDs epo_espacenet_KR20190100368A
PublicationCentury 2000
PublicationDate 20190828
PublicationDateYYYYMMDD 2019-08-28
PublicationDate_xml – month: 08
  year: 2019
  text: 20190828
  day: 28
PublicationDecade 2010
PublicationYear 2019
RelatedCompanies SCREEN HOLDINGS CO., LTD
RelatedCompanies_xml – name: SCREEN HOLDINGS CO., LTD
Score 3.1803901
Snippet 기판 처리 장치는, 기판을 유지하는 기판 유지 유닛과, 상기 기판을 처리하기 위한 처리액을 토출하기 위한 처리액 노즐과, 상기 처리액 노즐에 처리액을 공급하는 공급 배관과, 상기 공급 배관에 개재되어, 당해 공급 배관을 개폐하는 공급 밸브와, 상기 처리액 노즐로부터 토출된 처리액이며,...
SourceID epo
SourceType Open Access Repository
SubjectTerms BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
SEMICONDUCTOR DEVICES
Title 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
URI https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20190828&DB=EPODOC&locale=&CC=KR&NR=20190100368A
hasFullText 1
inHoldings 1
isFullTextHit
isPrint
link http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwY2BQAVZZhokpwE4OsC5I1jUxNEzWtTRLSdI1TElKBdX4yckp4NUWfmYeoSZeEaYRTAw5sL0w4HNCy8GHIwJzVDIwv5eAy-sCxCCWC3htZbF-UiZQKN_eLcTWRQ3aOzYEXeBtoebiZOsa4O_i76zm7GzrHaTmFwSRMwSdvmLhyMzACmxIm4Pyg2uYE2hfSgFypeImyMAWADQvr0SIgSk7X5iB0xl295owA4cvdMobyITmvmIRBt1XOza87Zmg8GbTjNfL1ii8mbf0zc4ZCq839CugSrzesPL1pqmiDMpuriHOHrpAe-Ph3oz3DkJ2pLEYA0tefl6qBIOCpXlKokFasoG5WVqqSUqyYVKqhamJYZpBoqFRsqFJspEkgww-k6TwS0szcIG4oHFSIwsZBpaSotJUWWBFW5IkBw4fABQZjUA
link.rule.ids 230,309,783,888,25576,76876
linkProvider European Patent Office
linkToHtml http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwY2BQAVZZhokpwE4OsC5I1jUxNEzWtTRLSdI1TElKBdX4yckp4NUWfmYeoSZeEaYRTAw5sL0w4HNCy8GHIwJzVDIwv5eAy-sCxCCWC3htZbF-UiZQKN_eLcTWRQ3aOzYEXeBtoebiZOsa4O_i76zm7GzrHaTmFwSRMwSdvmLhyMzACmxkm4Pyg2uYE2hfSgFypeImyMAWADQvr0SIgSk7X5iB0xl295owA4cvdMobyITmvmIRBt1XOza87Zmg8GbTjNfL1ii8mbf0zc4ZCq839CugSrzesPL1pqmiDMpuriHOHrpAe-Ph3oz3DkJ2pLEYA0tefl6qBIOCpXlKokFasoG5WVqqSUqyYVKqhamJYZpBoqFRsqFJspEkgww-k6TwS8szcHqE-PrE-3j6eUszcIGkQGOmRhYyDCwlRaWpssBKtyRJDhxWAN55kDM
openUrl ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info%3Aofi%2Fenc%3AUTF-8&rfr_id=info%3Asid%2Fsummon.serialssolutions.com&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Apatent&rft.title=%EA%B8%B0%ED%8C%90+%EC%B2%98%EB%A6%AC+%EC%9E%A5%EC%B9%98+%EB%B0%8F+%EA%B8%B0%ED%8C%90+%EC%B2%98%EB%A6%AC+%EB%B0%A9%EB%B2%95&rft.inventor=NAKAI+HITOSHI&rft.date=2019-08-28&rft.externalDBID=A&rft.externalDocID=KR20190100368A